ЖАРЫҚ ДИФРАКЦИЯСЫ Толқындардың жолындағы кедергілерді орағытып өтуін, яғни кедергілердің маңайында толқындардың таралуының геометриялық оптика заңдарынан ауытқуын дифракция деп атайды. Дифракцияның нәтижесінде жарық жолындағы кедергілерден, экрандағы кішкентай саңлаудан өтеді. Гюйгенс принципі: Толқын келіп жеткен әрбір нүкте екінші реттік толқын көзі болып табылады, ал осы толқындардың ораушылары келесі уақыт мезетіндегі толқындық шептің орнын береді. Гюйгенс – Френель принципі бойынша S жарық көзі қоздырған жарық толқыны екінші реттік когерентті толқындардың суперпозициясының нәтижесі деп көрсетіледі. Екінші реттік толқындардың амплитудалары мен фазаларын есептеу кеңістіктің кез келген нүктесіндегі қорытынды толқынның амплитудасы мен интенсивтілігін анықтауға мүмкіндік береді.
Френель толқындық бетті сақина тәрізді зоналарға бөлді. Зоналардың шетінен Р нүктесіне дейінгі қашықтықтар бір-бірінен λ/2 -ге өзгешеленеді. Сондықтан көршілес зоналардан келетін толқындардың фазалары қарамақарсы болады және олар бір-бірін әлсіретеді. Р нүктесіндегі қорытынды жарық тербелісінің амплитудасы:
Cфералық сегменттің ауданы: Френельдің m- ші зонасының ауданы:
Егер m жұп болса, онда центрде күңгірт сақина, егер m тақ болса, онда ақшыл сақина орналасады Орталық максимум концентрлік күңгірт және ақшыл сақиналармен қоршалған, ал максимумдердегі интенсивтілік көрініс центрінен қашықтаған сайын кемиді.
. дифракциялық минимум шарты: дифракциялық максимум шарты:
Бір жазықтықта жатқан және бірдей мөлдір емес аралықтармен бөлінген ендері бірдей саңлаулар жүйесін дифракциялық тор деп атайды. - дифракциялық тордың тұрақтысы (периоды) Интенсивтіліктің бас минимум шарты: Қосымша минимумдар шарты: Бас максимумдар шарты:
– Вульф-Брэгг формуласы Вульф – Брэгг формуласының қолданылуы: 1. Толқын ұзындығы белгілі рентген сәулелерінің, құрылымы белгісіз кристалдық тордағы дифракциясын бақылап және мен т өлшеп, қристалдық жазықтықтар аралығындағы қашықтықты (d), яғни заттың құрылымын анықтауға болады. Рентгендік құрылымдық талдаудың негізі ретінде осы әдіс алынған. 2. Құрылымы белгілі кристалдық тордағы толқын ұзындығы белгілі рентген сәулелерінің дифракциясын зерттеп және мен т өлшеп, рентген сәулесінің ұзындығын анықтауға болады. Рентгендік спектроскопия осы әдіске негізделген.
Скачать презентацию ЖАРЫҚ ДИФРАКЦИЯСЫ Толқындардың жолындағы кедергілерді орағытып өтуін яғни
19 дифракция.pptx