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Transistors J-FET, MES-FET, HEMT Ph. Lorenzini 1 Transistors J-FET, MES-FET, HEMT Ph. Lorenzini 1

Transistors à effet de champ n n n Importance des FET et les différents Transistors à effet de champ n n n Importance des FET et les différents types Une image physique de « comment ça marche » J-FET et MES-FET Les MOD-FET ou HEMT Les forces motrices pour les FETs modernes Ph. Lorenzini 2

Transistors à effet de champ n L’effet de champ est la variation de la Transistors à effet de champ n L’effet de champ est la variation de la conductance d’un canal, dans un semiconducteur, par l’application d’un champ électrique. Grille contrôle le canal Ph. Lorenzini 3

Coupe schématique d’un J-FET · a : largeur (hauteur) maximale du canal, c’est la Coupe schématique d’un J-FET · a : largeur (hauteur) maximale du canal, c’est la largeur «métallurgique » . · Z : profondeur du composant. · h est la largeur de la ZCE sous la grille dans le canal. · b largeur effective du canal. • L longueur de grille Ph. Lorenzini 4

Transistors à effet de champ à jonction : J-FET n Dispo 3 pattes n Transistors à effet de champ à jonction : J-FET n Dispo 3 pattes n n Source Drain Grille ( « gate » ) 2 a Rôle de la grille (gate) n Contrôle la largeur du canal Ph. Lorenzini 5

J-FET: transistor à jonction Influence de la tension de grille Ph. Lorenzini Influence de J-FET: transistor à jonction Influence de la tension de grille Ph. Lorenzini Influence de la tension de drain-source 6

Caractéristiques courant - tension n Hypothèses simplificatrices: n n n Mobilité des porteurs cte Caractéristiques courant - tension n Hypothèses simplificatrices: n n n Mobilité des porteurs cte dans le canal Approximation du canal graduel ( L >> h => E(x)<< E(y) ) => Eq. de Poisson à 1 D: Approximation de ZCE abrupte Ph. Lorenzini n D’après jonction PN: n En un point x => h(x): V(x) est le potentiel dans le canal: V(0) = VS = 0 V V(L) = VDS 7

Caractéristiques courant - tension n Tension interne de pincement : la tension aux bornes Caractéristiques courant - tension n Tension interne de pincement : la tension aux bornes de la ZCE nécessaire pour déserter tout le canal n la tension de grille à appliquer est donc Tension de seuil ou de pincement Ph. Lorenzini 8

Caractéristiques courant - tension n Courant de drain (suivant x): n Jx = densité Caractéristiques courant - tension n Courant de drain (suivant x): n Jx = densité de charge x mobilité x champ électrique n Ph. Lorenzini courant I: 9

Caractéristiques courant – tension En intégrant on obtient finalement: En intégrant on obtient finalement Caractéristiques courant – tension En intégrant on obtient finalement: En intégrant on obtient finalement Avec : Conductance max du canal Ph. Lorenzini 10

Régime pincé – saturation du courant Pincement Conductance nulle Courant nul ! Ph. Lorenzini Régime pincé – saturation du courant Pincement Conductance nulle Courant nul ! Ph. Lorenzini 11

Si b(x)=0, J tend vers l’infini : impossible Seules solutions pour maintenir I=cte Augmenter Si b(x)=0, J tend vers l’infini : impossible Seules solutions pour maintenir I=cte Augmenter v(x) et/ou n(x) 1 seule : n(x) couche d’accumulation qui « ouvre » le canal. Ph. Lorenzini 12

Ph. Lorenzini 13 Ph. Lorenzini 13

Courant en régime saturé Ph. Lorenzini 14 Courant en régime saturé Ph. Lorenzini 14

Transconductance n Régime linéaire: n Régime saturé: Ph. Lorenzini 15 Transconductance n Régime linéaire: n Régime saturé: Ph. Lorenzini 15

MES-FET Ph. Lorenzini 16 MES-FET Ph. Lorenzini 16

Fonctionnement en HF Calcul dans le cas du MES-FET: Variation de charge : Neutralité Fonctionnement en HF Calcul dans le cas du MES-FET: Variation de charge : Neutralité dans le canal temps de « réaction » Ph. Lorenzini 17

Fonctionnement en HF n n est fonction de la longueur du canal temps de Fonctionnement en HF n n est fonction de la longueur du canal temps de transit des électrons dans le dispositif. 2 cas: n Modèle mobilité constante n Régime de saturation de vitesse Ph. Lorenzini 18

Fonctionnement en HF Réduction de la taille des composants modèle qui « colle » Fonctionnement en HF Réduction de la taille des composants modèle qui « colle » à la réalité « à saturation de vitesse » et s’écrit : Dans le cas contraire: Ph. Lorenzini 19

Transistor à hétérostructure : HEMT Grille Source Ph. Lorenzini Drain http: //www. eudil. fr/eudil/tec Transistor à hétérostructure : HEMT Grille Source Ph. Lorenzini Drain http: //www. eudil. fr/eudil/tec 35/hemtc 1. htm 20

HEMT • largeur du semi-conducteur « grand gap » • largeur du « spacer HEMT • largeur du semi-conducteur « grand gap » • largeur du « spacer » • largeur du semi-conducteur « grand gap » dopé • hauteur de la barrière Schottky • discontinuité des bandes de conduction • courbure de potentiel dans la zone 2 «grand gap» (la barrière) MES-FET Parasite Ph. Lorenzini 21

HEMT pour plus de détails : H. Mathieu Canal long Canal court Ph. Lorenzini HEMT pour plus de détails : H. Mathieu Canal long Canal court Ph. Lorenzini 22

Idées forces pour la technologie FET Forces directrices Miniaturisation Technologie mixte Motivations et solutions Idées forces pour la technologie FET Forces directrices Miniaturisation Technologie mixte Motivations et solutions • Pb de lithographie => optique, rayons X • Modèles nouveaux pour le dessin des dispo • Ga. As + Si: vitesse + densité • CMOS + BJT : densité + puissance Nouveaux matériaux • Matériaux à forte mobilité Si => Ga. As => In. As • Puissance / haute température Si => Ga. As => Ga. N => Si. C Nouveaux concepts • Associer Effet tunnel et FET • Interférence quantique Ph. Lorenzini 23

Bibliographie n n n S. M. Sze « Physics of semiconductors devices » , Bibliographie n n n S. M. Sze « Physics of semiconductors devices » , 2° édition, Wiley, New York, 1981 H. Mathieu, « Physique des semi-conducteurs et des composants électroniques » , 4° édition, Masson 1998. J. Singh, « semiconductors devices : an introduction » , Mc. Graw. Hill, Inc 1994. Y. Taur et T. H. Ning, « Fundamentals of Modern VLSI devices » , Cambridge University Press, 1998. K. K. Ng, « complete guide to semiconductor devices » , Mc. Graw. Hill, Inc F. Ali et A. Gupta, Eds. , « HEMts &HBTs : devices, fabrication, and circuits » , Artech House, Boston, 1991. Ph. Lorenzini 24