Современный рентгеновский анализ в геологии 2012 1

Современный рентгеновский анализ в геологии 2012 1

Who is Bruker? Bruker Physik AG: Основана в 1960 Целью компании было разработка, в Карлсруе (Германия) производство и продажи научного и профессором Гюнтером аналитического оборудования Лаукеном 2

Bruker Наши офисы и представительства Головные офисы компании Сервисные центы Сервисно-методическая поддержка, продажи

Компания Bruker Bio. Spin 4 Bruker Optics Bruker Daltonics Bruker AXS

Bruker AXS Рентгеновская спектрометрия и дифрактометрия Оптико-эмиссионная спектрометрия CS/ONH – анализ Атомно-силовая микроскопия Профилометрия и оптическая метрология Трибология

Рентгенофлуоресцентный анализ все материалы: жидкости, металлы, порошки, газы (на фильтрах) все элементы: от Be(4) до U(92) широкий диапазон концентрации: от миллионных долей (ppm) до 100 % высокая точность до 0. 1 % отн. экспрессность: время анализа до 1 минимальная пробоподготовка минимальная трудоемкость анализ без использования стандартных образцов 6

Определение элементного состава геологических проб Элементный анализ Волно-дисперсионный WDX Последовательный Sequential — S 8 Tiger 7 Параллельный Simultaneously — S 8 Lion S 8 Dragon Энерго-дисперсионный ЕDX Ручные - S 1 Настольные S 2 M 1 -M 4

Элементный анализ Рентгенофлуоресцентные спектрометры S 8 TIGER((( S 2 PICOFOX TXRF 8 S 8 LION TRACERturbo-SD Ручной РФА S 2 RANGER QUANTAX РФА на микроскопе

S 2 RANGER Энергодисперcионный спектрометр Компактный и простой в управлении прибор – анализ одним касанием Большой магазин с возможностью загрузки проб различных типов в любой момент С автоматической загрузкой Уникальные характеристики безазотного SDD детектора XFlash® – <124 э. В при скорости счета 100000 имп/сек Анализ без необходимости использования стандартов при помощи программы EQUA ALL С ручной загрузкой 9

S 2 PICOFOX TXRF спектрометр Настольный рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением 10

((( S 8 TIGER волнодисперсионный спектрометр последовательного типа Наилучшая чувствительность по легким элементам благодаря 175 м. А Улучшенная система защиты спектрометрической камеры и трубки от загрязнений Высокая скорость движущихся механизмов Встроенный сенсорный экран управления. Малые размеры (менее 1 м 2) 11 Рентгеновская трубка с торцевым окном 1, 3 и 4 к. Вт Автоматический сменщик масок

S 8 TIGER: высокая аналитическая гибкость, чувствительность и разрешение проба коллиматорная маска вакуум-затвор до 10 фильтров первичного пучка 75 m возбуждение: 4 k. W (до 60 k. V или 150 m. A) Rh проточный счетчик Сцинтилляционный детектор до 4 коллиматоров до 8 кристаллованализаторов

S 8 LION S 8 DRAGON спектрометры многоканального типа До 16 анализируемых каналов Наилучшая чувствительность по легким элементам благодаря 170 м. А Высокая скорость анализа Диффракционный канал — S 8 LION EDX канал — S 8 DRAGON Встроенный сенсорный экран управления. Малые размеры (менее 1 м 2) 13 Рентгеновская трубка с торцевым 3 и 4 к. Вт Автоматический сменщик масок

S 8 LION схема измерительной камеры

S 8 LION Термо-статированные кристаллы под каждую группу элементов Пропорциональный счётчик для лёгких элементов Сцинтилляционный – для тяжёлых Быстрая и точная пробоподача с системой Sample. Care & Easy Load Дифракционный канал для определения свободной извести

S 8 DRAGON Встроенный энергодисперсионный канал позволяет видеть всю таблицу менделеева, помимо 15 выбранных элементов.

Элементный анализ в электронной микроскопии QUANTAX - EDS с детекторами Xflash и Si(Li) Картирование с количественным анализом 17

M 1 MISTRAL – микроанализ массивных проб и слоёв - анализ от Ti до U - размер объекта 100× 100 мм - видео-микроскоп - лазерная указка для выбора области - дискретность исследуемой области от 100 мкм - моторизованный столик - точность 0. 2 % масс. На драгоценных металлах

M 4 TORNADO – микроанализ, картирование, спектр в каждой точке образца - анализ от Na до U - дискретность анализа 20 мкм - анализ многослойных систем - качественный и количественный анализ - встроенный вакуумный насос, безмасляная откачка - встроенные системы термостатирования и охлаждения трубки - до двух трубок с различными анодами

Картирование образца бетона, Анализируемая площадь : 15× 11 мм, размер пятна 37 мкм, Общее время измерения с усреднением: 5 мин. 23 мин. Скорость счёта в точке (37 мкм) имп/с: 4 15 80 мин. 30

Управление приборами, измерение, обработка и передача данных: SPECTRAplus количественный и полуколичественный анализ простое, удобное и безопасное управление приборами обработка результатов во время измерения в реальном многозадачном режиме современная матричная коррекция и анализ без использования стандартных образцов гибкое и удобное для пользователя представление результатов анализа (Word, Excel, Power. Point, …) интегрированная база данных для любых параметров интересуемой пробы быстрая и надежная передача всех данных по локальной сети 21

SPECTRAplus Оптимизация параметров измерения в режиме on-line 22

Рентгеноструктурный и фазовый анализ более 15 моделей дифрактометров !!! D 8 ADVANCE 23 D 4 ENDEAVOR D 2 PHASER

D 8 ADVANCE: широкие возможности и гибкость 24 качественный фазовый анализ с программой DIFFRACplus SEARCH количественный фазовый анализ с программами DQUANT или TOPAS изучение фазовых превращений при изменении температуры и других внешних условий рефлектометрия при помощи программы LEPTOS анализ текстуры и микронапряжений по программе Tex. Eval и STRESS

D 2 PHASER – настольный порошковый дифрактометр настольная система с аналитическими характеристиками стационарной составной гониометр – высокотехнологичное решение уникальный детектор LYNXEYE высокоточные направляющие для позиционирования оборудования включил – работай, нет необходимости в юстировке Качественный и количественный анализ фазового (минерального) состава с программным обеспечением EVA и TOPAS 25

Рентгеновский дифракционный анализ Качественный фазовый анализ Количественный фазовый анализ 26

Рентгеновская дифрактометрия – качественный фазовый анализ с программой DIFFRACplus SEARCH 27

DIFFRACplus TOPAS Аппроксимация пика Размер кристаллитов Микронапряжения . . . Определение структуры Уточнение структуры по Rietveld 28 Анализ дифрактограммы (Pawley, Le. Bail) Параметры ячейки . . . Количественный фазовый анализ по Rietveld

Сертификаты ГОССТАНДАРТА РФ Все приборы внесены в Госреестр средств измерений, допущенных к применению в Российской Федерации 29

ООО Брукер Благодарим за внимание! www. bruker. ru www. bruker-axs. com 30