Понедельник 30. 05. 16 10: 00 – 13: 00 Конференц-зал № 1 (к. 314, этаж 3) 19: 00 – 21: 00 4 -ая научная школа по электронной микроскопии Школа молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов» см. Программу XXVI Российской конферении по электронной микроскопии 10. 00 – 11. 30 Конференц-зал № 2 (11 этаж) 14: 30 – 19: 00 Монтаж оборудования 12. 00 – 12. 20 Поляков В. В. (ООО “НТ-МДТ”). Современные методики исследования поверхности с помощью атомно-силовой микроскопии. 14. 30 – 14. 55 Коренев П. А. (ООО”Серния”). "Применение цифровой оптической микроскопии для 3 d моделирования образцов с развитой поверхностью". 15. 00 Мастер класс «Литографическое производство» (Ави Араджуан, Израиль) Бизнес-площадка Малый конференц-зал (к. 413, этаж 4) Демонстрационный зал (к. 914/к. 903, этаж 9) Открытая площадка Знакомство израильских компаний с потенциальными партнёрами в Зеленограде Мастер класс «Цифровая «Атомно-силовая микроскопия» (ГК «НТ-МДТ» ) оптическая 3 Д микроскопии» ( «ООО Серния» ) Welcome party
Вторник 31. 05. 16 10: 00 – 11: 30 – 12: 45 Устные доклады РКЭМ– 2016 Открытие Конференц-зал № 1 (к. 314, этаж 3) Международного форума «Техноюнити РКЭМ 2016» - 14: 30 – 18: 00 см. Программу XXVI Российской конференции по электронной микроскопии 18: 00 – 19: 30 – 20: 00 17. 40 – 18. 10 Урубков И. В. , специалист по научному и аналитическому оборудованию. ("Токио Боэки (РУС)). «Новые модели электронных микроскопов JEOL» 18. 10 – 19. 00 Dr. Meiken Falke (ООО «Брукер» ). “Element distribution analysis from the mm scale to single atoms; possibilities with energy dispersive Xray spectroscopy in SEM and STEM. ” ( «Анализ распределения элементов в масштабе от мм до единичных атомов; возможности энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии в растровой и просвечивающей растровой микроскопии» ). Доклад на русском языке. Новые методы, оборудование, применение 11. 30 – 12. 00 Martyn Green, global sales manager of Mantis-Sigma holding, Ph. D. (MANTIS-SIGMA). New real time XPS chemical analysis of reduction of Titanium Oxide and advances in Low Temperature STM. 12. 05 -12. 35 Novotný Karel (TESCAN ORSAY HOLDING). Analysis of advanced microelectronic devices by means of electron microscopy. 14. 30 – 14. 45 Миловзоров Н. Г. (ООО “ТЕСКАН”). Nanospace – CЭМ с ионной колонной, совместимый с любыми установками для молекулярнолучевой эпитаксии. Конференц-зал № 2 (11 этаж) 14. 50 – 15. 05 Трусов М. А. , руководитель направления Raman/AFM ( «Найтек Инструментс» ). Raman/AFM спектроскопия углеродных структур на нано-масштабе. 15. 05 – 15. 30 Трусов М. А. , руководитель направления Raman/AFM ( «Найтек Инструментс» ). Системы для катодолюминесценции от HORIBA Scientific: описание преимуществ и примеры приложений для исследования полупроводников и наноматериалов. 15. 30 – 16. 00 Быков В. А. Президент группы компаний НТ-МДТ. Новые возможности сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии 16. 00 – 18. 00 Круглый стол «Особенности рынка микроэлектроники РФ в условиях кризиса» Применение метрологического оборудования
Вторник 31. 05. 16 10: 00 – 11: 30 Малый конференцзал (к. 413, этаж 4) Демонстрационный зал (к. 914/к. 903, этаж 9) 11: 30 – 12: 45 14: 30 – 18: 00 Круглый стол 19: 30 – 20: 00 Круглый стол «Развитие рынка инноваций в РФ» 18: 00 – 19: 30 «Стартапы и инвестиции» (Роман Гольд, JS-Capital, Израиль) Мастер класс «Атомно-силовая микроскопия» (ГК «НТ-МДТ» ) Мастер класс «Цифровая оптическая 3 Д микроскопии» ( «ООО Серния» ) 18: 00 – 19: 30 секции 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8 Стендовые доклады (к. 911, 9 этаж) Открытая площадка см. Программу XXVI Российской конференици по электронной микроскопии Секция 1 - «Просвечивающая электронная микроскопия» . Секция 3 - «Методы электронной дифракции в исследовании материалов» . Секция 4 - «Растровая электронная микроскопия» . Секция 5 - «Сканирующая зондовая микроскопия» . Секция 6 - «Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений» . Секция 8 - «Электронная и ионная литография» Open-free party
Среда 01. 06. 16 10: 00 – 13: 00 14: 00 – 18: 00 – 19: 30 17. 45– 18. 10 Hans Dijkstra, ведущий специалист по микроанализу Thermo Scientific (Thermo Scientific). "The Analysis of Mo 5 Si. B 2 in the SEM using EDS and WDS" Устные доклады РКЭМ– 2016 Конференц-зал № 1 (к. 314, этаж 3) 18. 15– 18. 35 Неудачина В. С. , руководитель направления "Анализ поверхности и наноструктур" (INTERTECH Corp. ). "Фототермическое возбуждение кантилеверов как революционный подход к получению АСМ-изображений высочайшего разрешения". 18. 40– 19. 00 Лукашова М. В. (ООО “ТЕСКАН”). Опыт использования ионной колонны двухлучевого сканирующего электронного микроскопа для прецизионной EBSDпробоподготовки. Презентации фирм 11. 00– 11. 25 Миловзоров Н. Г. (ООО “ТЕСКАН”). «Сканирующие электронные микроскопы TESCAN» 11. 30– 11. 50 Козлов В. В. , глава московского представительства компании Oxford Instruments ( «Оксфорд Инструментс Оверсиз Маркетинг Лимитед» (Великобритания) ). "Системы электронно-зондового микроанализа компании Oxford Instruments" Конференц-зал № 2 (11 этаж) 11. 50– 12. 15 Козлов В. В. , глава московского представительства компании Oxford Instruments ( «Оксфорд Инструментс Оверсиз Маркетинг Лимитед» (Великобритания) ). "Применение дифракции Кикучи для диагностики кристаллической структуры редких и новых минералов". Применение оборудования электронно-лучевой микроскопии 12. 20– 12. 45 Ханин В. А. (ООО "Мелитэк"). "Phenom XL - новинка в настольных СЭМ. FEI Helios Plasma FIB для микроэлектроники". 14. 00– 14. 25 Капченко И. В. Глава фирмы. ( ERCATA Gmb. GH). Materials for Advanced Metallization, Challenges, Tools and Technoogies. 14. 35 Мастер класс «Вывод продукта на международный рынок» (JS-Capital, Израиль) Малый конференц-зал (к. 413, этаж 4) 11: 00 - 15: 40 секция 10 «Применение методов микроскопии в химии и геологии» Устные доклады 15. 50 Круглый стол «Стратегическое партнёрство Израиль – Россия» 19: 30 – 20: 00
Среда 01. 06. 16 14: 00 – 18: 00 Мастер класс Демонстрационный зал (к. 914/к. 903, этаж 9) Стендовые доклады (к. 911, этаж 9) Открытая площадка «Атомно-силовая микроскопия» (ГК «НТ-МДТ» ) 18: 00 – 19: 30 – 20: 00 Мастер класс «Цифровая оптическая 3 Д микроскопии» ( «ООО Серния» ) 16: 00 – 18: 00 секция 10 «Применение методов микроскопии в химии и геологии» . 18: 00 – 19: 30 секции 2 и 7 Секция 2 - «Электронная микроскопия в исследовании новых материалов и наноструктур» . Секция 7 - «Рентгеновская оптика, рентгеновская и оптическая микроскопия» . Open-free party
Четверг 02. 06. 16 10: 00 – 13: 00 Конференц-зал № 1 (к. 314, этаж 3) 14: 30 – 18: 10 Устные доклады РКЭМ– 2016 см. Программу XXVI Российской конференции по электронной микроскопии Новые методы, оборудование, применение Конференц-зал № 2 (11 этаж) 10. 00 – 10. 20 Шелаев А. В. НТ-МДТ. Ближнепольная ИК –микроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния с нанометровым пространственным разрешением. 10. 20 – 10. 40 Гелевер В. Д. МГТУ МИРЭА. Гибридный низковольтный наноскоп. 10. 40 – 11. 00 Старков В. В. ИПТМ РАН. Технологические аспекты получения, свойств и применения пористого кремния. 11. 00 – 11. 30 Федик И. В. CAMECA. Атомно-зондовая томография и масс-спектрометрия вторичных ионов в исследовании наноразмерных систем 10. 00 -11. 30 Круглый стол Малый конференц-зал (к. 413, этаж 4) Обсуждение совместных проектов по биомедицине и другим направлениям 11. 30 -13. 00 Круглый стол Обсуждение совместных проектов по микроэлектронике и ЭКБ Демонстрационный зал (к. 914/к. 903, этаж 9) Стендовые доклады (к. 911, 9 этаж) Мастер класс «Атомно-силовая микроскопия» (ГК «НТ-МДТ» ) 11: 00 – 13: 00 секция 11 «Применение методов микроскопии в биологии и медицине» 14. 00 -18. 10 Устные доклады биологической секция (11 секция) 18. 10 Круглый стол -биологическая секция (11 секция) Мастер класс «Цифровая оптическая 3 Д микроскопии» ( «ООО Серния» ) 18: 30 – 19: 30 секция 9 «Применение методов микроскопии в физике, материаловедении, микро- и наноэлектронике» 19: 00 + Устные доклады РКЭМ– 2016
Пятница 03. 06. 16 Четверг 02. 06. 16 10: 00 – 13: 00 Стендовые доклады (к. 911, 9 этаж) 14: 30 – 18: 10 11: 00 – 13: 00 секция 11 «Применение методов микроскопии в биологии и медицине» 19: 00 + 10: 00 – 14: 00 18: 30 – 19: 30 секция 9 «Применение методов микроскопии в физике, материаловедении, микро- и наноэлектронике» Закрытие Выезд в Москву Открытая площадка Международного форума Мастер класс «Электронно – лучевая литография» (ОПТЭК) «Техноюнити РКЭМ 2016» Conference dinner –