Подготовка к экзамену Вопросы к экзамену Лекция

Подготовка к экзамену

Вопросы к экзамену Лекция 1 1. Основные механизмы поглощения рентгеновского излучения. 2. Рентгеновские детекторы и принципы их работы. 4. Методы исследования материалов, где используется поглощение рентгеновских лучей. 5. Рентгеновская томография, медицинские компьютерные томографы. 6. Основные типы рентгеновской томографии. Лекция 2 1. Сцинтилляционный детектор, устройство, принципы работы, кривая амплитудного разрешения, скорость счета. 2. Устройство рентгеновской трубки и ее спектр излучения. 3. Рентгеновские аппараты с вращающимся анодом. 4. Синхротронные источники, поворотные магниты, Виглеры, ондуляторы. 5. Формула Лауэ и формула Вульфа- Брегга. 6. Прямая и обратная решетка. Сфера Эвальда.

Лекция 3 1. Рассеяние свободным электроном, поляризационный множитель. 2. Атомный и структурный факторы. 3. Форм-фактор и величина узлов обратной решетки. 4. Рентгеноструктурный анализ и фазовая проблема. Лекция 4 1. Принципы восстановления внутренней структуры по данным рентгеновской томографии. 2. Типы рентгеновских микротомографов. 3. Выбор длины волны зондирующего излучения и разрешение лабораторных микротомографов. Шкала Хаунсфельда. 4. Увеличивающие рентгенооптические элементы. Лекция 5 1. Артефакты рентгеновской томографии. Лекция 6 1. Комплексные диэлектрическая проницаемость и показатель преломления среды. Коэффициент поглощения. 2. Формулы Френеля. Полное внешнее отражение (ПВО). Критический угол ПВО. 3. Глубина проникновения излучения. 4. Отражение от двух- и многослойных покрытий.

Лекция 7 1. Методы исследования шероховатостей поверхностей. 2. Рассеяние РИ на шероховатых поверхностях. 3. PSD-функция поверхности. Эффективная высота шероховатости. Лекция 8 1. Влияние переходного слоя на отражение и рассеяние РИ. 2. Эффект Ионеды. 3. Связь рельефа подложки и нанесенной на нее пленки. 4. Обратная задача рентгеновской рефлектометрии. Лекция 9 1. Основные виды рентгенооптических элементов. Их назначение. 2. Зеркальная оптика скользящего падения. Критический угол ПВО. Эффект «шепчущей галереи» . 3. Капиллярная оптика. Достоинства и недостатки. 4. Многослойные зеркала. Принцип действия. 5. Зонные пластинки. Отражательные зонные пластинки. 6. Составные преломляющие линзы.

Малоугловое рассеяние 1. Основы метода малоуглового рассеяния: используемое излучение, схема эксперимента, основные понятия (волновой вектор, вектор рассеяния, амплитуда рассеяния, интенсивность рассеяния). 2. Основные формулы малоуглового рассеяния, связывающие структуру объекта с амплитудой рассеяния и интенсивностью. Понятие автокорреляционной функции. Функция Паттерсона, функция распределений по расстояниям, их смысл. 3. Отличие рассеяния на упорядоченных системах от рассеяния на неупорядоченных объектах, формулы для малоуглового рассеяния с усреднением по ориентациям, формула Дебая, корреляционная функция. 4. Рассеяние на монодисперсных системах частиц, формулы для расчета интегральных структурных параметров: объем частицы, радиус инерции, максимальный размер. 5. Методы анализа структуры (формы) частиц в монодисперсных системах, основные формулы для расчета интенсивности рассеяния от однородных частиц и атомных моделей.

Малоугловое рассеяние (продолжение) 6. Применение аппарата сферических гармоник в прямых методах малоуглового рассеяния, методы расчет функции формы и псевдоатомных моделей. Основные ограничения методов. 7. Преимущества и ограничения метода малоуглового рассеяния (разрешение, потеря структурной информации) и его преимущества перед другими структурными методами (кристаллографическими, электронной микроскопией). 8. Анализ полидисперсных систем по данным малоуглового рассеяния: методы расчета распределений по размерам, понятие формфактора. 9. Принципиальная схема установки малоуглового рассеяния, ее отличия от устройства дифрактометров, предназначенных для исследования кристаллических объектов. 10. Подход к интерпретации интенсивности рассеяния с использованием функции статистического распределения рассеивающих структурных единиц. Формула Цернике и Принса. Особенности рассеяния от разбавленных и концентрированных систем.