Патентные исследования Патентная документация Основные виды патентной документации

Патентные исследования Патентная документация Основные виды патентной документации: 1. Описание изобретений 2. Официальные патентные бюллетени 3. Реферативные сборники 4. Официальные публикации Роспатента 1

Патентные исследования Коммерческие информационнопоисковые системы Delphion обеспечивает к БД, содержащим документы США. http: //www. delphion. com/home Questel-orbit предлагает доступ к 37 патентным БД, 19 БД по товарным знакам и 25 научно-техническим БД. http: //www. questel. com/en/index. htm 2

Патентные исследования Фирма Derwent является мировым лидером в производстве патентных и научно-технических БД. БД WPI (World Patent index) содержит документы по всем отраслям с 1974 года. В БД представлены патенты и заявки 40 стран мира. http: //scientific. thomson. com/products/solutions/ip/ Коммерческая информационно-поисковая система STN International (The Scientific & Technical information Network) предлагает доступ к более чем 200 патентным и научно-техническим БД. http: //www. fizkarlsruhe. de/home. html Chemical Abstracts Service (CAS) является мировым лидером в производстве химических БД. БД Chemical Abstracts (CA) & Registry содержат 15 млн. документов и более 22 млн. химических соединений http: //www. cas. org/ 3

Патентные исследования Соединенные штаты Америки предлагают доступ к полнотекстовой БД патентов с 1976 года, реферативной БД патентов с 1976 года и БД товарных знаков. Возможен поиск по библиографическим данным и тексту документа, а также просмотр факсимильных копий страниц, найденных документов в графическом формате. http: //www. uspto. gov/web/menu/search. html 4

Патентные исследования Япония предлагает доступ к реферативной патентной БД (PAJ) с 1993 года (PN 05000001 -11299300) на английском языке и БД товарных знаков на английском языке. Возможен поиск по библиографическим данным и тексту реферата. http: //www. ipdl. inpit. go. jp/homepg_e. ipdl БД AIPN содержит патентные документы Японии, опубликованные с 1995 г. , а также документы США (с 1987 Г. ), ЕПВ (с 1994 г. ) и ВОИС (с 1994 г. ). Для японских документов имеется информация о членах семейства, цитированных документах и правовом статусе. Можно также ознакомиться с материалами заявки на всех стадиях экспертизы на английском языке. Доступен перевод на английский язык полного текста документа 5

Патентные исследования Сеть патентной информации esp@cenet создана Европейским патентным ведомством и насчитывает сегодня в своем составе более 37 серверов. PATENTSCOPE предоставляет доступ более чем к 5 миллионам патентных документов из фондов РСТ и национальных/региональных ведомств 6

Патентные исследования ГОСТ Р 15. 011 -96 "Система разработки и постановки продукции на производство, патентные исследования" устанавливает единые требования к организации, проведению и оформлению результатов патентных исследований. 7

Патентные исследования позволяют: определить патентоспособность объектов промышленной собственности, создаваемых в процессе разработки новой продукции, и решить вопрос о целесообразности патентования; определить (патентную чистоту) условия беспрепятственной реализации промышленной продукции на рынке конкретной страны или стран и исключить нарушение прав третьих лиц, владеющих патентами, действующими на территории этих стран; выявить потенциальных конкурентов, определить направления их деятельности и выбрать свою рыночную нишу. 8

Патентные исследования позволяют: исследовать состояния рынков данной продукции, сложившейся патентной ситуации, характера национального производства в странах исследования; исследовать требования потребителей к продукции и услугам; 9

Патентные исследования Процесс проведения патентных исследований включает следующие этапы: разработку задания на проведение патентных исследований; разработку регламента поиска информации; поиск и отбор патентной и другой научнотехнической информации; анализ отобранной информации. 10

Патентные исследования Глубина (ретроспективность) поиска информации, с учетом сокращения сроков обновления технических решений, составляет от 5 до 20 лет. На первом этапе поиска следует определить классификационный индекс по объекту поиска. Для этого необходимо обратиться к алфавитно-предметному указателю для отыскания рубрик Международной патентной классификации (МПК). 11

Патентные исследования Отчет о патентных исследованиях должен содержать: титульный лист; список исполнителей; содержание; перечень сокращений, условных обозначений, символов, единиц, терминов; общие данные об объекте исследований; основную (аналитическую) часть; заключение; приложения. 12

Материалы, отобранные для последующего анализа Предмет поиска (объект исследования, его составные части) 1 Страна выдачи, вид и номер охранного документа. Классификаци Заявитель (патентооблад атель), страна. Номер заявки, дата приоритета, конвенционный индекс* й приоритет, дата публикации* Название изобретения (полной модели, 2 4 3 образца) Сведения о действии охранного документа или причина его аннулировани я (только для анализа патентной чистоты) 5 Патентная документация 13

Патентные исследования Объект техники и его Страна составные части Количество патентов, опубликованных заявок по годам подачи заявки 1 3 4 5 6 7 8 9 10 2 Количество опубликованных охранных документов по годам (изобретательская активность) 14

Патентные исследования ПРИМЕР № 1 (Проект № 142) Разработка лазерной технологии экологического контроля атмосферы в районах прохождения магистральных газо- и продуктопроводов и энергосбережения газо- и нефтепродуктов 15

Патентные исследования Диагностика утечек из газо- и нефтепроводов – ключевая проблема эксплуатации сырьевых продуктопроводов во всем мире по двум причинам: Утечки транспортируемых продуктов ведут к их потерям при доставке потребителю, что снимает коммерческий эффект от такой транспортировки. Утечки являются причиной загрязнения окружающей среды, а в ряде случаев могут привести к аварийным ситуациям (пожар, взрыв) и, соответственно, к серьезным катастрофам экологического характера. 16

Патентные исследования Таким образом, эффективная, доступная и простая в применении технология контроля утечек является важным фактором безаварийной эксплуатации газо- нефтепроводов. Это важно особенно в настоящее время, когда транспортируемое сырье является, с одной стороны, источником национального благосостояния, а с другой – потенциальным источником национальных экологических катастроф. 17

Патентные исследования Предметный поиск по теме «анализ утечек природного газа с помощью лазеров» проводился по ключевым словам: laser, DFlaser, differential absorbtion, gas leakage, monitoring leakage, metane, propane, butane, etane. Использовался следующий скрипт для поиска: ((DF-laser) or lidar or (differential (3 d) absorption? ) or (monitoring (d) leakage? ) or (propane (d) identification)). По результатам применения скрипта был проведен статистический анализ. Классы Международной патентной классификации, по которым проводился поиск: G 01 N 21/00 -61, Классы Национальной патентной классификации США – 250205, 338, 339, 343, 345. 18

Патентные исследования Результаты поиска по предмету патентования Ближайшие аналоги 1. Патент РФ № 2086959 пр. 07. 06. 95 публ. 10. 08. 97 «Авиационный лазерный газоанализатор для обнаружения утечек из трубопроводов» кл. G 01 N 21/39, 21/61, Жученко И. А. , Емохонов В. Н. , Филиппов П. Г. , Моисеев В. Н. , Пихтелев Р. Н. 2. Патент РФ № 2091759 пр. 07. 06. 95 публ. 27. 09. 97 кл. G 01 N 21/39 “Авиационное устройство для обнаружения утечек газа из трубопроводов”, Жученко И. А. , Дедешко В. Н. , Филиппов П. Г. , Моисеев В. Н. , Пихтелев Р. Н. 3. Патент США № 5130544 пр. 09. 88 публ. 14. 07. 92 кл. 250/343, G 01 N 21/61 «Оptical gas analyzer» Gambro Engstrom AB (SE) Оптический газоанализатор для анализа СО 2 и NO 2 – работает на двух длинах волн: 3, 90 мкм и 4, 26 мкм 19

Патентные исследования 4. Патент США № 5015099 пр. 23. 03. 89 публ 14. 05. 91 кл. 250/205 G 01 N 21/00 «Differential absorption laser radar gas detection apparatus having tunable wavelength single mode semiconductor laser source» – излучатели на разных длинах волн работают поочередно, Не-Ne лазер. Anritsu Corp, Tokyo (JP) 5. Патент США № 5430293 пр. 08. 10. 91 публ. 04. 07. 95 кл. 250/338 G 01 N 21/35 «Gas visualizing apparatus and method for detecting gas leakage from tanks or piping» G 01 NOsaka Gas Comp. (JP) Близок по назначению, по принципу действия- Не-Nе лазер излучает на одной длине волны – 3. 39 мкм. 6. Патент США № 5001346 пр. 26. 02. 90 публ. 19. 03. 91 кл. 250 -338 21/35 «Leak detection system with background compensation» Получают изображение объекта, имеющего утечки, на разных длинах волн, сравнивают изображения, источник излучения – СО 2 -лазер. Rockwell International (US) 20

Патентные исследования Результаты поисков анализировались в патентной базе Dervent (WPIL). Статистический анализ проводился по 577 документам по результатам предметного поиска и по 962 документам по результатам поиска по рубрикам МПК по годам приоритета (Priority year - PY) представленных документов и по фирме-заявителю (Раtent Assignee – PA). Выявлялись 20 наиболее активно патентующих фирм. Результаты статистического анализа, проведенного по году приоритета – РY поданных патентов, показали, что начиная с 1993 года идет стабильное, приблизительно равное по годам патентование по указанному направлению. 21

Патентные исследования Экспертное заключение Сравнение с патентами РФ (наиболее близки по назначению и по принципу действия): диапазон регистрируемых концентраций 1 -6 х105 ррm (метан). Нижний предел определяется природной концентрацией метана в атмосфере 1, 6 -2, 0 ррm, а верхний – взрывоопасной концентрацией метана в смеси с воздухом от 3 до 60%. Используется Nd: YAG импульсный лазер, дополненный для реализации перестройки параметрическим генератором на основе нелинейного кристалла Li. Nb. O 3. Используемый диапазон длин волн – 3, 1 -3, 6 мкм. Суть изобретения - аппаратурные решения, связанные с управлением лазером и регистрацией излучения. По сравнению с патентом № 2086959 в патенте № 2091759 добавлен блок формирования видимого изображения и блок пространственного сканирования лазерного луча. 22

Патентные исследования Результаты поиска по фирмам В общем случае в статистические данные по каждой фирме включены следующие сведения : - общее количество патентов, - годы, за которые эти патенты получены, - год, на который приходится максимальное количество поданных патентов, - общее направление, в котором фирма ведет патентование, - страны, в которых фирма имеет основное число патентов. 23

Патентные исследования *1. Gambro Engstrom AB (SE) (с. 7) - 152 патента, годы подачи – 80 -94 (табл. 1, с. 8), мах – 84 год – 21 патент, 93 и 94 годы – по 3 патента; основной вид деятельности – медицина (анестезия), кроме этого –анализ материалов с помощью оптических, ультразвуковых и иных методов (табл. 2, с. 8). Патентаналог подан в США в 1988 году. *2. Anritsu Corp, Tokyo (JP) (с. 96) – 16054 патента, пересечение с ключевым словом «laser” – 745 патентов, годы подачи – 78 -98 (табл. 1, с. 96), мах – 92 год – 26 патентов, 97 – 13 патентов, 98 – 15 патентов; занимаются лазерами, в т. ч. для исследования и анализа материалов (табл. 2, с. 97). Патентуют в основном в Японии – 140 патентов, США, евр. патенты, Германия (15 -6 патентов, т. 3, с. 97). Патент аналог подан в США в 1989 г. *3. Osaka Gas Comp (JP) (с. 85) - 31703 патента, пересечение с ключевым словом «laser» - 225, годы подачи – 87 -98 (т. 1, с. 86), мах – 91 – 12 патентов, 97 – 1 патент, 98 – 3 патента; занимаются обработкой поверхности лазерным лучом, анализ материалов с помощью оптических средств – мало(т. 2, с. 86 -87), Патенты в Японии – 44, США, Евр. патенты, Германия (8 -4 патента) (т. 3, с. 87). Патент-аналог подан в США в 1991 г. 24

Патентные исследования % documents 1 - Hitachi LTD (37 - 3. 85%) 2 - SONY Corp. (31 - 3. 22%) 3 - Toshiba KK (25 - 2. 60%) 4 - Mitsubishi Materials Corp. (23 - 2. 39%) 5 - Hitachi Metals LTD (21 - 2. 18%) 6 - Matsushita Elec. Ind. Co. LTD (21 - 2. 18%) 7 - NEC Corp. (21 - 2. 18%) 8 - Nichiden Anelva KK (21 - 2. 18%) 9 - Applied Materials Inc. (18 - 1. 87%) 10 - Fujitsu LTD (17 - 1. 77%) 25

Патентные исследования 26

Патентные исследования Выводы: Поиск выявил довольно большое количество патентов по методам и устройствам, сходных с разрабатываемыми в данном проекте. Было выявлено, что ряд фирм имеет такие патенты в собственных странах и в странах потенциальных потребителей продуктов патентования. Предварительный поиск патентов показал, что патентование в данной области достигло пика в 1985 -1990 гг, в то время как близкие патенты были поданы в 1988 -1991 гг. Однако, патенты для газоанализаторов самолета появились только в 1988 -1991 гг (и российский, и принадлежащий фирме La. Sen). Фирмами, представляющими интерес, являются «газовые» фирмы, которые могут быть заинтересованы в контроле утечек, такие как Osaka Gas Comp, CONOCO, Tokyo gas, а также фирмы стабильно работающие в данной области, например, Anritsu Corp.

Патентные исследования Совместный российско – европейский проект esp@cenet это: свободный доступ к более, чем 50 млн. патентных документов со всего мира, представляющим технические достижения с 1836 г. по настоящее время. Поисковая база данных esp@cenet в настоящий момент включает источники патентной информации 72 патентных ведомств мира.

Патентные исследования Сервер Роспатента http: //www. fips. ru даёт возможность доступа к всемирной базе патентной информации и к патентным фондам различных стран и международных организаций. Ссылка на сайт европейского патентного ведомства http: //ru. espacenet. com/ содержится в разделе «Информационные ресурсы» . 29

Патентные исследования Начинаем с адреса http: //www. espacenet. com Нажимаем на ссылку «Access esp@cenet» Вам будут представлены на выбор адреса серверов: ЕПВ (Европейское Патентное Ведомство), Европейской Комиссии и национальных ведомств. Additional access points Выбираем – Eurasian Patent Office (EAPO)http: //ea. espacenet. com/ Rospatent http: //ru. espacenet. com

Патентные исследования На новой странице слева предлагается 4 варианта поиска 1. Быстрый поиск (по: ключевым словам, имени автора, названию фирмы) 2. Расширенный поиск ( за определенный год, из определенной страны, определенные слова или сочетания) 3. Нумерационный поиск (по известному номеру документа) 4. По классификации ECLA

Патентные исследования Например выбран, «быстрый поиск» После клика этого названия попадаете на страницу , где предлагается выбрать патентную базу данных, пусть это будет ЕР , область поиска – ключевые слова, частные лица или организации поисковые условия –ключевые слова, Затем нажимаете ПОИСК и получаете результат в виде патентных документов.

Патентные исследования В полях «Название изобретения» , «Название изобретения или реферат» , «Заявитель» или «Изобретатель» вы можете сократить ваши поисковые условия, используя следующие подстановочные символы: ? - вместо произвольного одиночного символа (напр. , телефон? для поиска по словам телефон или телефоны) # - на месте обязательного одиночного символа (напр. , car# для поиска по словам card, cars, cart, но не car) * - взамен неограниченного числа символов (напр. , игр* для поиска по словам игра, игры, игрок, игровой и т. д. ) 33

Патентные исследования ПРИМЕР. OPTICAL SCHEME FOR A LASER-ROBOT PRA-0108 Full Title Development of an Optical Scheme for a Laser – Robot Tech Area/ Field PHY-OPL MAN-ROB

Патентные исследования СПИСОК РЕЗУЛЬТАТОВ 41 документ(ов) найдено в базе данных EP - esp@cenet для запроса: Laser robot в названии изобретения или реферате (Результаты отсортированы по дате загрузки в базу данных) 1 Laser welding method and laser welding robot добавить в список выбранных документов Изобретатель: OTSUKA KAZUHISA [JP]; FURUYA YOSHITAKE [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP 1710040 (A 2) — 2006 -10 -11 МПК: B 23 K 26/08 ; B 23 K 26/08 2 Robot laser processing system добавить в список выбранных документов Изобретатель: TAKAHASHI HIROMITSU [JP]; FURUYA YOSHITAKE [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP 1747839 (A 1) — 2007 -01 -31 МПК: B 23 K 26/42 ; B 23 K 26/00 3 METHOD OF PREVENTING ERRONEOUS PROJECTION OF LASER BEAM IN A LASER ROBOT. добавить в список выбранных документов Изобретатель: TORII NOBUTOSHI ROOM FUYOHAITS [JP]; ITO SUSUMU ROOM - FANUC MANSHO [JP]; TERADA AKIHIRO ROOM - FANUC MA [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP 0428748 (A 1) — 1991 -05 -29 МПК: B 23 K 26/08 ; B 23 K 26/10 ; B 23 K 26/42

Патентные исследования Кликнув по названию патентного документа Вы можете получить сведения о нем:

Патентные исследования Robot laser processing system Библиографические данные - Описание - Формула изобретения - Мозаика - Исходный документ Правовой статус (INPADOC) Номер патента: EP 1747839 (A 1)Дата публикации: 200701 -31 Изобретатель(и): TAKAHASHI HIROMITSU [JP]; FURUYA YOSHITAKE [JP]Заявитель(и): FANUC LTD [JP]Индекс(ы) по классификации: - международной (МПК): B 23 K 26/42; B 23 K 26/00; Номер заявки: EP 20060015155 20060720 2007 -01 -31 Номера приоритетных документов: JP 20050220978 20050729

Патентные исследования В активных окнах этого документа можно получить более подробную информацию о патентном документе, как правило в формате PDF.

Патентные исследования В выводах следует дать анализ сложившейся патентной ситуации в отношении рассмотренного объекта техники у нас в стране и за рубежом. Необходимо назвать ведущие страны, ведущие фирмы в данной области техники; проследить динамику патентования по годам и объяснить причины патентования в других странах; выявить тенденции развития данного вида техники и применимость наиболее существенных технических решений при рассмотрении поставленных задач.

Патентные исследования PATENTSCOPE Поисковая система PATENTSCOPE® предоставляет доступ более чем к 5 миллионам патентных документов из фондов РСТ и национальных/региональных ведомств http: //www. wipo. int/patentscope/ru/