Патентные исследования ГОСТ Р 15.

Скачать презентацию Патентные исследования  ГОСТ Р 15. Скачать презентацию Патентные исследования ГОСТ Р 15.

Семинар ПИ 2012.ppt

  • Количество слайдов: 34

>  Патентные исследования  ГОСТ Р 15. 011 -96 Патентные исследования ГОСТ Р 15. 011 -96 "Система разработки и постановки продукции на производство, патентные исследования" устанавливает единые требования к организации, проведению и оформлению результатов патентных исследований. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 1

>  Патентные исследования позволяют: § определить патентоспособность объектов промышленной собственности, создаваемых в процессе Патентные исследования позволяют: § определить патентоспособность объектов промышленной собственности, создаваемых в процессе разработки новой продукции, и решить вопрос о целесообразности патентования; § определить (патентную чистоту) условия беспрепятственной реализации промышленной продукции на рынке конкретной страны или стран и исключить нарушение прав третьих лиц, владеющих патентами, действующими на территории этих стран; § выявить потенциальных конкурентов, определить направления их деятельности и выбрать свою рыночную нишу. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 2

>  Патентные исследования позволяют: § исследовать состояния рынков данной продукции, сложившейся патентной ситуации, Патентные исследования позволяют: § исследовать состояния рынков данной продукции, сложившейся патентной ситуации, характера национального производства в странах исследования; § исследовать требования потребителей к продукции и услугам; ИМО МИФИ П-3 2008 г. 3

>  Патентные исследования Процесс проведения патентных исследований включает следующие этапы: § разработку задания Патентные исследования Процесс проведения патентных исследований включает следующие этапы: § разработку задания на проведение патентных исследований; § разработку регламента поиска информации; § поиск и отбор патентной и другой научно- технической информации; § анализ отобранной информации. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 4

>  Патентные исследования   Глубина (ретроспективность) поиска информации, с учетом сокращения сроков Патентные исследования Глубина (ретроспективность) поиска информации, с учетом сокращения сроков обновления технических решений, составляет от 5 до 15 лет. § На первом этапе поиска следует определить классификационный индекс по объекту поиска. Для этого необходимо обратиться к алфавитно-предметному указателю для отыскания рубрик Международной патентной классификации (МПК). ИМО МИФИ П-3 2008 г. 5

>  Патентные исследования Отчет о патентных исследованиях должен содержать:  § титульный лист; Патентные исследования Отчет о патентных исследованиях должен содержать: § титульный лист; § список исполнителей; § содержание; § перечень сокращений, условных обозначений, символов, единиц, терминов; § общие данные об объекте исследований; § основную (аналитическую) часть; § заключение; § приложения. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 6

>  Материалы, отобранные для последующего      анализа Предмет Материалы, отобранные для последующего анализа Предмет Страна Заявитель Название Сведения о поиска выдачи, вид и (патентооблад изобретения действии (объект номер атель), страна. (полной охранного исследования, охранного Номер заявки, модели, документа или его составные документа. дата причина его образца) Классификаци приоритета, аннулировани части) конвенционны я (только для онный индекс* й приоритет, анализа дата патентной публикации* чистоты) 1 2 3 4 5 Патентная документация ИМО МИФИ П-3 2008 г. 7

>  Патентные исследования Объект техники и его Страна     Количество Патентные исследования Объект техники и его Страна Количество составные части патентов, опубликованных заявок по годам подачи заявки 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Количество опубликованных охранных документов по годам (изобретательская активность) ИМО МИФИ П-3 2008 г. 8

>  Патентные исследования ПРИМЕР № 1 (Проект № 142) Разработка лазерной технологии экологического Патентные исследования ПРИМЕР № 1 (Проект № 142) Разработка лазерной технологии экологического контроля атмосферы в районах прохождения магистральных газо- и продуктопроводов и энергосбережения газо- и нефтепродуктов ИМО МИФИ П-3 2008 г. 9

>  Патентные исследования   Диагностика утечек из газо- и нефтепроводов – ключевая Патентные исследования Диагностика утечек из газо- и нефтепроводов – ключевая проблема эксплуатации сырьевых продуктопроводов во всем мире по двум причинам: § Утечки транспортируемых продуктов ведут к их потерям при доставке потребителю, что снимает коммерческий эффект от такой транспортировки. § Утечки являются причиной загрязнения окружающей среды, а в ряде случаев могут привести к аварийным ситуациям (пожар, взрыв) и, соответственно, к серьезным катастрофам экологического характера. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 10

>  Патентные исследования § Таким образом, эффективная, доступная и  простая в применении Патентные исследования § Таким образом, эффективная, доступная и простая в применении технология контроля утечек является важным фактором безаварийной эксплуатации газо- нефтепроводов. Это важно особенно в настоящее время, когда транспортируемое сырье является, с одной стороны, источником национального благосостояния, а с другой – потенциальным источником национальных экологических катастроф. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 11

> Патентные исследования  Предварительный патентный поиск проведен в информационно-справочной системе Questel -Orbit. по Патентные исследования Предварительный патентный поиск проведен в информационно-справочной системе Questel -Orbit. по патентным базам данных. § Предметный поиск по теме «анализ утечек природного газа с помощью лазеров» проводился по ключевым словам – DF-laser, lidar, differential adsorption, monitoring, leakage, propane identification. Использовался следующий скрипт для поиска: § ((DF-laser) or lidar or (differential (3 d) absorption? ) or (monitoring (d) leakage? ) or (propane (d) identification)). По результатам применения скрипта был проведен статистический анализ. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 12

> Патентные исследования § Результаты поисков анализировались в патентной базе Dervent (WPIL). Статистический анализ Патентные исследования § Результаты поисков анализировались в патентной базе Dervent (WPIL). Статистический анализ проводился по 577 документам по результатам предметного поиска и по 962 документам по результатам поиска по рубрикам МПК по годам приоритета (Priority year - PY) представленных документов и по фирме-заявителю (Раtent Assignee – PA). Выявлялись 20 наиболее активно патентующих фирм. Результаты статистического анализа, проведенного по году приоритета – РY поданных патентов, показали, что начиная с 1993 года идет стабильное, приблизительно равное по годам патентование по указанному направлению. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 13

>  Патентные исследования   Результаты поиска по фирмам  Предметный поиск проводился Патентные исследования Результаты поиска по фирмам Предметный поиск проводился по ключевым словам: laser, DF-laser, differential absorbtion, gas leakage, monitoring leakage, metane, propane, butane, etane. Классы Международной патентной классификации, по которым проводился поиск: G 01 N 21/00 -61, Классы Национальной патентной классификации США – 250 -205, 338, 339, 343, 345. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 14

>  Патентные исследования  Результаты поиска по предмету патентования Ближайшие аналоги 1. Патент Патентные исследования Результаты поиска по предмету патентования Ближайшие аналоги 1. Патент РФ № 2086959 пр. 07. 06. 95 публ. 10. 08. 97 «Авиационный лазерный газоанализатор для обнаружения утечек из трубопроводов» кл. G 01 N 21/39, 21/61, Жученко И. А. , Емохонов В. Н. , Филиппов П. Г. , Моисеев В. Н. , Пихтелев Р. Н. 2. Патент РФ № 2091759 пр. 07. 06. 95 публ. 27. 09. 97 кл. G 01 N 21/39 “Авиационное устройство для обнаружения утечек газа из трубопроводов”, Жученко И. А. , Дедешко В. Н. , Филиппов П. Г. , Моисеев В. Н. , Пихтелев Р. Н. 3. Патент США № 5130544 пр. 09. 88 публ. 14. 07. 92 кл. 250/343, G 01 N 21/61 «Оptical gas analyzer» Gambro Engstrom AB (SE) Оптический газоанализатор для анализа СО 2 и NO 2 – работает на двух длинах волн: 3, 90 мкм и 4, 26 мкм ИМО МИФИ П-3 2008 г. 15

>  Патентные исследования 4. Патент США № 5015099 пр. 23. 03. 89 публ Патентные исследования 4. Патент США № 5015099 пр. 23. 03. 89 публ 14. 05. 91 кл. 250/205 G 01 N 21/00 «Differential absorption laser radar gas detection apparatus having tunable wavelength single mode semiconductor laser source» – излучатели на разных длинах волн работают поочередно, Не-Ne лазер. Anritsu Corp, Tokyo (JP) 5. Патент США № 5430293 пр. 08. 10. 91 публ. 04. 07. 95 кл. 250/338 G 01 N 21/35 «Gas visualizing apparatus and method for detecting gas leakage from tanks or piping» G 01 NOsaka Gas Comp. (JP) Близок по назначению, по принципу действия- Не-Nе лазер излучает на одной длине волны – 3. 39 мкм. 6. Патент США № 5001346 пр. 26. 02. 90 публ. 19. 03. 91 кл. 250 -338 21/35 «Leak detection system with background compensation» Получают изображение объекта, имеющего утечки, на разных длинах волн, сравнивают изображения, источник излучения – СО 2 -лазер. Rockwell International (US) ИМО МИФИ П-3 2008 г. 16

>  Патентные исследования      Экспертное заключение   Патентные исследования Экспертное заключение § Сравнение с патентами РФ (наиболее близки по назначению и по принципу действия): диапазон регистрируемых концентраций 1 -6 х105 ррm (метан). Нижний предел определяется природной концентрацией метана в атмосфере 1, 6 -2, 0 ррm, а верхний – взрывоопасной концентрацией метана в смеси с воздухом от 3 до 60%. Используется Nd: YAG импульсный лазер, дополненный для реализации перестройки параметрическим генератором на основе нелинейного кристалла Li. Nb. O 3. Используемый диапазон длин волн – 3, 1 -3, 6 мкм. Суть изобретения - аппаратурные решения, связанные с управлением лазером и регистрацией излучения. По сравнению с патентом № 2086959 в патенте № 2091759 добавлен блок формирования видимого изображения и блок пространственного сканирования лазерного луча. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 17

>  Патентные исследования Результаты поиска по фирмам   В общем случае в Патентные исследования Результаты поиска по фирмам В общем случае в статистические данные по каждой фирме включены следующие сведения : - общее количество патентов, - годы, за которые эти патенты получены, - год, на который приходится максимальное количество поданных патентов, - общее направление, в котором фирма ведет патентование, - страны, в которых фирма имеет основное число патентов. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 18

>  Патентные исследования *1. Gambro Engstrom AB (SE) (с. 7) - 152 патента, Патентные исследования *1. Gambro Engstrom AB (SE) (с. 7) - 152 патента, годы подачи – 80 -94 (табл. 1, с. 8), мах – 84 год – 21 патент, 93 и 94 годы – по 3 патента; основной вид деятельности – медицина (анестезия), кроме этого –анализ материалов с помощью оптических, ультразвуковых и иных методов (табл. 2, с. 8). Патент- аналог подан в США в 1988 году. *2. Anritsu Corp, Tokyo (JP) (с. 96) – 16054 патента, пересечение с ключевым словом «laser” – 745 патентов, годы подачи – 78 -98 (табл. 1, с. 96), мах – 92 год – 26 патентов, 97 – 13 патентов, 98 – 15 патентов; занимаются лазерами, в т. ч. для исследования и анализа материалов (табл. 2, с. 97). Патентуют в основном в Японии – 140 патентов, США, евр. патенты, Германия (15 -6 патентов, т. 3, с. 97). Патент аналог подан в США в 1989 г. *3. Osaka Gas Comp (JP) (с. 85) - 31703 патента, пересечение с ключевым словом «laser» - 225, годы подачи – 87 -98 (т. 1, с. 86), мах – 91 – 12 патентов, 97 – 1 патент, 98 – 3 патента; занимаются обработкой поверхности лазерным лучом, анализ материалов с помощью оптических средств – мало(т. 2, с. 86 -87), Патенты в Японии – 44, США, Евр. патенты, Германия (8 -4 патента) (т. 3, с. 87). Патент-аналог подан в США в 1991 г. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 19

>  Патентные исследования       % documents  1 Патентные исследования % documents 1 - Hitachi LTD (37 - 3. 85%) 2 - SONY Corp. (31 - 3. 22%) 3 - Toshiba KK (25 - 2. 60%) 4 - Mitsubishi Materials Corp. (23 - 2. 39%) 5 - Hitachi Metals LTD (21 - 2. 18%) 6 - Matsushita Elec. Ind. Co. LTD (21 - 2. 18%) 7 - NEC Corp. (21 - 2. 18%) 8 - Nichiden Anelva KK (21 - 2. 18%) 9 - Applied Materials Inc. (18 - 1. 87%) 10 - Fujitsu LTD (17 - 1. 77%) ИМО МИФИ П-3 2008 г. 20

>Патентные исследования   ИМО МИФИ П-3 2008 г.  21 Патентные исследования ИМО МИФИ П-3 2008 г. 21

>    Патентные исследования     Выводы:   Патентные исследования Выводы: Поиск выявил довольно большое количество патентов по методам и устройствам, сходных с разрабатываемыми в данном проекте. Было выявлено, что ряд фирм имеет такие патенты в собственных странах и в странах потенциальных потребителей продуктов патентования. Предварительный поиск патентов показал, что патентование в данной области достигло пика в 1985 -1990 гг, в то время как близкие патенты были поданы в 1988 -1991 гг. Однако, патенты для газоанализаторов самолета появились только в 1988 -1991 гг (и российский, и принадлежащий фирме La. Sen). Фирмами, представляющими интерес, являются «газовые» фирмы, которые могут быть заинтересованы в контроле утечек, такие как Osaka Gas Comp, CONOCO, Tokyo gas, а также фирмы стабильно работающие в данной области, например, Anritsu Corp. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 22

> Патентные исследования Совместный российско – европейский проект esp@cenet это: свободный доступ к более, Патентные исследования Совместный российско – европейский проект esp@cenet это: свободный доступ к более, чем 50 млн. патентных документов со всего мира, представляющим технические достижения с 1836 г. по настоящее время. Поисковая база данных esp@cenet в настоящий момент включает источники патентной информации 72 патентных ведомств мира. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 23

> Патентные исследования  Сервер Роспатента http: //www. fips. ru даёт возможность доступа к Патентные исследования Сервер Роспатента http: //www. fips. ru даёт возможность доступа к всемирной базе патентной информации и к патентным фондам различных стран и международных организаций. Ссылка на сайт европейского патентного ведомства http: //ru. espacenet. com/ содержится в разделе «Информационные ресурсы» . ИМО МИФИ П-3 2008 г. 24

>  Патентные исследования Начинаем с адреса http: //www. espacenet. com Нажимаем на ссылку Патентные исследования Начинаем с адреса http: //www. espacenet. com Нажимаем на ссылку «Access esp@cenet» Вам будут представлены на выбор адреса серверов: ЕПВ (Европейское Патентное Ведомство), Европейской Комиссии и национальных ведомств. Additional access points Выбираем – Eurasian Patent Office (EAPO)http: //ea. espacenet. com/ Rospatent http: //ru. espacenet. com ИМО МИФИ П-3 2008 г. 25

>  Патентные исследования На новой странице слева предлагается 4 варианта поиска 1. Быстрый Патентные исследования На новой странице слева предлагается 4 варианта поиска 1. Быстрый поиск (по: ключевым словам, имени автора, названию фирмы) 2. Расширенный поиск ( за определенный год, из определенной страны, определенные слова или сочетания) 3. Нумерационный поиск (по известному номеру документа) 4. По классификации ECLA ИМО МИФИ П-3 2008 г. 26

>  Патентные исследования Например выбран,  «быстрый поиск» После клика этого названия попадаете Патентные исследования Например выбран, «быстрый поиск» После клика этого названия попадаете на страницу , где предлагается выбрать патентную базу данных, пусть это будет ЕР , область поиска – ключевые слова, частные лица или организации поисковые условия – это те самые ключевые слова, которые Вы извлекаете из имеющихся у Вас заданий по результатам выполнения научных проектов. Затем нажимаете ПОИСК и получаете результат в виде патентных документов. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 27

> Патентные исследования ПРИМЕР. OPTICAL SCHEME FOR A LASER-ROBOT PRA-0108 Full Title Development of Патентные исследования ПРИМЕР. OPTICAL SCHEME FOR A LASER-ROBOT PRA-0108 Full Title Development of an Optical Scheme for a Laser – Robot Tech Area/ Field PHY-OPL MAN-ROB ИМО МИФИ П-3 2008 г. 28

>  Патентные исследования  СПИСОК РЕЗУЛЬТАТОВ 41 документ(ов) найдено в базе данных EP Патентные исследования СПИСОК РЕЗУЛЬТАТОВ 41 документ(ов) найдено в базе данных EP - esp@cenet для запроса: Laser robot в названии изобретения или реферате (Результаты отсортированы по дате загрузки в базу данных) § 1 Laser welding method and laser welding robot добавить в список выбранных документов Изобретатель: OTSUKA KAZUHISA [JP]; FURUYA YOSHITAKE [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP 1710040 (A 2) — 2006 -10 -11 МПК: B 23 K 26/08 ; B 23 K 26/08 § 2 Robot laser processing system добавить в список выбранных документов Изобретатель: TAKAHASHI HIROMITSU [JP]; FURUYA YOSHITAKE [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP 1747839 (A 1) — 2007 -01 -31 МПК: B 23 K 26/42 ; B 23 K 26/00 § 3 METHOD OF PREVENTING ERRONEOUS PROJECTION OF LASER BEAM IN A LASER ROBOT. добавить в список выбранных документов Изобретатель: TORII NOBUTOSHI ROOM FUYOHAITS [JP]; ITO SUSUMU ROOM - FANUC MANSHO [JP]; TERADA AKIHIRO ROOM - FANUC MA [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP 0428748 (A 1) — 1991 -05 -29 МПК: B 23 K 26/08 ; B 23 K 26/10 ; B 23 K 26/42 ИМО МИФИ П-3 2008 г. 29

> Патентные исследования Кликнув по названию патентного документа Вы можете получить сведения о нем: Патентные исследования Кликнув по названию патентного документа Вы можете получить сведения о нем: ИМО МИФИ П-3 2008 г. 30

>  Патентные исследования Robot laser processing system  Библиографические данные - Описание - Патентные исследования Robot laser processing system Библиографические данные - Описание - Формула изобретения - Мозаика - Исходный документ - Правовой статус (INPADOC) Номер патента: EP 1747839 (A 1)Дата публикации: 2007 - 01 -31 Изобретатель(и): TAKAHASHI HIROMITSU [JP]; FURUYA YOSHITAKE [JP]Заявитель(и): FANUC LTD [JP]Индекс(ы) по классификации: - международной (МПК): B 23 K 26/42; B 23 K 26/00; Номер заявки: EP 20060015155 20060720 2007 -01 -31 Номера приоритетных документов: JP 20050220978 20050729 ИМО МИФИ П-3 2008 г. 31

> Патентные исследования В активных окнах этого документа можно получить более подробную информацию о Патентные исследования В активных окнах этого документа можно получить более подробную информацию о патентном документе, как правило в формате PDF. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 32

> Патентные исследования В выводах следует дать анализ сложившейся патентной ситуации в отношении рассмотренного Патентные исследования В выводах следует дать анализ сложившейся патентной ситуации в отношении рассмотренного объекта техники у нас в стране и за рубежом. Необходимо назвать ведущие страны, ведущие фирмы в данной области техники; проследить динамику патентования по годам и объяснить причины патентования в других странах; выявить тенденции развития данного вида техники и применимость наиболее существенных технических решений при рассмотрении поставленных задач. ИМО МИФИ П-3 2008 г. 33

> Патентные исследования § PATENTSCOPE Поисковая система PATENTSCOPE®  предоставляет доступ более чем к Патентные исследования § PATENTSCOPE Поисковая система PATENTSCOPE® предоставляет доступ более чем к 5 миллионам патентных документов из фондов РСТ и национальных/региональных ведомств http: //www. wipo. int/patentscope/ru/ ИМО МИФИ П-3 2008 г. 34