Скачать презентацию Молекулярная спектрометрия 1 Энергетическое состояние молекулы характеризуется Скачать презентацию Молекулярная спектрометрия 1 Энергетическое состояние молекулы характеризуется

Лекция 8-9 Молекулярная спектрометрия..ppt

  • Количество слайдов: 40

Молекулярная спектрометрия. 1 Молекулярная спектрометрия. 1

Энергетическое состояние молекулы характеризуется состоянием ее электронной оболочки (электронный уровень), состоянием колебательного движения (колебательный Энергетическое состояние молекулы характеризуется состоянием ее электронной оболочки (электронный уровень), состоянием колебательного движения (колебательный уровень), и состоянием вращения (вращательный уровень): Е=Еэл+Екол+Евр, причем Еэл» Екол» Евр. Все три вида энергии могут принимать только ряд дискретных значений и разница энергий между различными энергетическими уровнями с энергиями Еm, Еn равна: ∆Е=Еm En=hν, где h постоянная планка, ν частота волны спектра. 2

Эмиссионная спектрометрия. Эмиссионные методы анализа основаны на способности молекул переходить в новое (возбужденное) энергетическое Эмиссионная спектрометрия. Эмиссионные методы анализа основаны на способности молекул переходить в новое (возбужденное) энергетическое состояние путем поглощения энергии, поступающей к ним извне и затем отдавать эту избыточную энергию в виде электромагнитного излучения с интенсивностью: Iисп(ν)=hνω исп(ν)n, где h постоянная планка, ωисп (v) вероятность спонтанного излучения молекулы на определенной частоте, ν частота волны спектра, n количество молекул находящееся в возбужденном состоянии. Таким образом, величина интенсивности электромагнитного излучения на определенной частоте спектра Iисп(v) зависит от концентрации определяемого вещества. 3

1 источник излучения, 2 оптическая система, 3 анализируемый образец, 4 фронт плазмы или факела, 1 источник излучения, 2 оптическая система, 3 анализируемый образец, 4 фронт плазмы или факела, 5 приемник излучения, 6 анализатор. Рис. 2. 24. Схема анализатора эмиссионного спектра. Лазерный луч от источника излучения 1 проходит через оптическую систему 2, которая формирует пучок с заданными пространственными параметрами и направляет его на изучаемый объект 3. При высокой плотности потока излучения, которая получается благодаря фокусировке лазерного луча, расплавляется или испаряется любой из известных материалов с образованием факела или плазмы 4, эмиссионный спектр которой регистрируется с помощью приемника излучения 5. 4

Абсорбционная спектрометрия. Основой абсорбционных методов является способность молекул вещества избирательно поглощать лучистую энергию в Абсорбционная спектрометрия. Основой абсорбционных методов является способность молекул вещества избирательно поглощать лучистую энергию в характерных участках спектрального диапазона (полосах поглощения): Iλ= I 0λe kλLC где I 0λ интенсивность зондирующего излучения на определенной длине волны , Iλ - интенсивность прошедшего излучения на определенной длине волны, С концентрация поглощающего компонента, L толщина слоя исследуемого вещества (длина оптического пути), kλ коэффициент поглощения, характерный для каждого вещества и зависящий от длины волны излучения. При проведении измерений измеряют так называемую величину экстинции: D=lg(I 0λ/Iλ)= kλLC, где I 0λ и Iλ интенсивность падающего и прошедшего излучений, kλ коэффициент поглощения (абсорбции) зависящий от природы поглощающего компонента и длины волны излучения, L толщина поглощающего слоя, С концентрация поглощающего компонента в поглощающем слое. 5

Приборы, основанные на абсорбционном методе анализа, бывают однолучевыми (рис. 2. 25. а) и двухлучевыми Приборы, основанные на абсорбционном методе анализа, бывают однолучевыми (рис. 2. 25. а) и двухлучевыми (рис. 2. 25. 6). 1 источник излучения, 2 монохроматор, 3 измерительная кювета, 3' эталонная кювета сравнения, 4 и 4' приемник излучения, 5 – регистрирующее устройство. Рис. 2. 25. Блок схема абсорбционных спектральных приборов, а однолучевой прибор, б двухлучевой прибор. 6

В однолучевых приборах измеряют величину D и на основании полученных результатов измерения определяют концентрацию В однолучевых приборах измеряют величину D и на основании полученных результатов измерения определяют концентрацию поглощающего компонента в анализируемой пробе: C= В двухлучевых приборах регистрируют различие поглощения в исследуемой пробе D и в эталонной пробе D' (с точно известным содержанием поглощающего компонента С'). Концентрации поглощающего вещества в анализируемой пробе определяют путем сравнения измеренных величин D и D'. Двухлучевые схемы более предпочтительны, так как обеспечивают более высокие метрологические характеристики приборов. 7

В газовых лазерах в качестве активного вещества используют чистые газы и газовые смеси. Схема В газовых лазерах в качестве активного вещества используют чистые газы и газовые смеси. Схема газодинамического лазера с прокачкой газовой смеси вдоль оси резонатора представлена на рис. 2. 26. Рис. 2. 26. Схема газодинамического лазера. 8

Таблица 2. 6. Тип лазера He-Ne Детектируемые вещества HF HF, NO 2, СН 4, Таблица 2. 6. Тип лазера He-Ne Детектируемые вещества HF HF, NO 2, СН 4, СО 2, F СН 4, НCl, С 3 Н 8, С 4 Н 10, SO 2, CO 2, СО NO, NO 2, C 4 H 10, Н 2 СO 3, СО 2 NH 3, С 2 Н 4, CCl 3 F, CCl 2 F, С 2 Сl 4 O 3, C 2 HCl 3, CH 3 OH, C 2 H 5 OH, С 2 Н 3 Сl, СO 2, SO 2, CH 3 NH 2, 2, 4 -динитротолуол СН 4, C 4 Н 10, C 3 H 8, С 2 Н 6, С 3 Н 6, С 2 Н 5 ОН, СНз. ОН, С 2 Н 5 СН 3 9

Полупроводниковые оптические квантовые генераторы светодиоды (рис. 2. 27. ) представляют собой полупроводниковую пластину 1 Полупроводниковые оптические квантовые генераторы светодиоды (рис. 2. 27. ) представляют собой полупроводниковую пластину 1 с микролинзой из пластмассы 2 для уменьшения потерь излучения на границе раздела полупроводник среда. Рис. 2. 27. Схема светодиода. Принцип действия светодиодов основан на явлении инжекционной люминесценции возникновение электромагнитного излучения при впрыскивании носителей заряда в р n переход, образованный в полупроводнике. 10

1 стеклянная оболочка, 2 алюминий, 3 прозрачный фотокатод, 4 первый динод, 5 сетки электроды, 1 стеклянная оболочка, 2 алюминий, 3 прозрачный фотокатод, 4 первый динод, 5 сетки электроды, 6 фокусирующее поле, 7 последний динод, 8 анод Рис. 2. 28. Схема фотоумножителя. 11

Схема фотоумножителя. 12 Схема фотоумножителя. 12

Абсорбционные спектральные методы делятся на недисперсионные и дисперсионные. Недисперсионный метод анализа основан на выделении Абсорбционные спектральные методы делятся на недисперсионные и дисперсионные. Недисперсионный метод анализа основан на выделении нужной спектральной полосы без разложения излучения в спектр. Для такого выделения чаще всего используют газовые фильтры. Суть этого метода заключается в следующем: источник испускает ультрафиолетовое или инфракрасное излучение в зависимости от спектра поглощения определяемого вещества. Излучение проходит через анализируемую среду. Далее из всего излучения при помощи газового фильтра выбирается специфическая спектральная полоса, лежащая в диапазоне спектра поглощения определяемого вещества. Концентрация вещества определяется по соотношению интенсивностей испущенного и поглощенного света. Данный метод позволяет определить только наличие и концентрацию заранее определенного вещества. 13

1 источник излучения, 2 сферическое зеркало, 3 сравнительная кювета, 4 рабочая кювета, 5 непрозрачное 1 источник излучения, 2 сферическое зеркало, 3 сравнительная кювета, 4 рабочая кювета, 5 непрозрачное зеркало, 6 модулятор, 7 приемник излуче ния, 8 газовые фильтры, 9 ручка управления, 10 линзовый объектив, 11 ослабитель излучения, 12 съемная кювета, 13 аналого цифровой преобразователь, 14 ЭВМ Рис. 2. 31. Оптическая блок схема многокомпонентного недисперсионного 14 ИК анализатора.

 • • • Излучение от источника 1 (нихромовая проволока) с помощью сферического зеркала • • • Излучение от источника 1 (нихромовая проволока) с помощью сферического зеркала 2 направляется в виде двух параллельных пучков на сравнительную 3 и рабочую 4 кюветы. Кюветы представляют собой цилиндры диаметром 20 мм и длиной 300 мм, торцы которых изготовлены из Ba. F 2 с пропусканием в области до 12 мкм. Сравнительная кювета заполняется осушенным азотом, не поглощающем ИК излучение. После прохождения через кюветы излучение с помощью зеркального модулятора 6 и зеркала 5 попеременно направляется на пироэлектрический приемник излучения 7 в области 2 20 мкм. Перед приемником расположены ИК-газоеые фильтры 8, представляющие собой кюветы, заполненные определенными газовыми смесями и выделяющие часть полосы поглощения определяемого компонента. Введение нужного фильтра в оптический путь осуществляется с помощью ручки управления 9. Посредством линзового объектива 10 из Ba. F 2 излучение фокусируется на приемник 7. Съемная кювета 12 служит для устранения влияния неизмеряемой компоненты, полоса поглощения которой перекрывается с полосой поглощения измеряемой компоненты (СО и СO 2). На пути уравнивающего пучка расположен ослабитель 11, уравнивающий потоки излучения в обоих каналах и служащий для установки оптического нуля. Выходной электрический сигнал приемника оцифровывается и информация о концентрации исследуемого компонента представляется в форме, приемлемой для обработки на ПЭВМ. 15

 • Анализатор применяется для измерения концентрации СО, Сх. Оу, NO 2, SO 2 • Анализатор применяется для измерения концентрации СО, Сх. Оу, NO 2, SO 2 в диапазоне 0 0, 1% с чувствительностью 0, 01%. • Дисперсионный метод основан на выделении нужной спектральной полосы в результате разложения излучения в спектр. В качестве диспергирующего элемента, разлагающего излучение в спектр, используются призмы, дифракционные решетки (рис. 2. 32), интерферометры и акустооптические фильтры (рис. 2. 33). 16

1 входная щель, 2, 4 внеосевые параболоиды, 3 дифракционная решетка, 5 выходная щель. Рис. 1 входная щель, 2, 4 внеосевые параболоиды, 3 дифракционная решетка, 5 выходная щель. Рис. 2. 32. Схема монохроматора с дифракционной решеткой. Своеобразными диспергирующими элементами являются акустооптические фильтры. Спектральная характеристика таких фильтров управляется электрическим путем, что позволяет создавать перестраиваемые по спектру 17 оптические приборы.

1 поляризатор, 2 монокристалл, 3 поглотитель, 4 анализатор, 5 пьезопреобразователь, 6 ультразвуковые волны, 7 1 поляризатор, 2 монокристалл, 3 поглотитель, 4 анализатор, 5 пьезопреобразователь, 6 ультразвуковые волны, 7 генератор. Рис. 2. 33. Схема акустооптического фильтра. 18

 • Принцип действия акустооптических фильтров основан на создании в анизотропном двулучепреломляющем кристалле локальных • Принцип действия акустооптических фильтров основан на создании в анизотропном двулучепреломляющем кристалле локальных механических напряжений при распространении в нем ультразвуковой волны 6, и как следствие, локальных изменений показателя преломления кристалла. • Таким образом в кристалле создается дифракционная решетка с периодом, равным длине ультразвуковой волны. • Ультразвуковые волны распространяются поперек кристалла 2 и абсорбируются в поглотителе 3. • Часть падающего на кристалл излучения дифрагирует и отклоняется на угол у. • Недифрагированное излучение не меняет первоначального направления и подавляется в анализаторе 4. 19

Спектральная характеристика акустооптического фильтра описывается соотношением: τ(λ)=τosin 2[L(λ 0 -λ)/λ 02], где L длина Спектральная характеристика акустооптического фильтра описывается соотношением: τ(λ)=τosin 2[L(λ 0 -λ)/λ 02], где L длина акустического взаимодействия, τ0 пропускание на длине вол ны 0, на которой интенсивность дифракции максимальна. λ Значение λ 0 зависит от частоты акустических колебаний и близка к обратнопропорциональной. Поэтому, используя модуляцию электрического сигнала генератора 7 по частоте и амплитуде можно получить различное спектральное пропускание фильтра и сформировать требуемую спектральную характеристику акустооптического фильтра. Акустооптические фильтры используются в видимой, ближней и средней ИК областях. Диапазон сканирования по спектру составляет десятые доли микрометра при ширине полосы пропускания 10 нм. 20

1 источник излучения, 2 входная щель, 3 зеркало, 4 дифракционная решетка, 5 ось, 6 1 источник излучения, 2 входная щель, 3 зеркало, 4 дифракционная решетка, 5 ось, 6 сферическое зеркало, 7 выходная щель, 8 быстросканирующее устройство, 9 фотоэлектронный умножитель, 10 анализатор, 11 исследуемый образец Рис. 2. 34. Оптическая блок схема многокомпонентного дисперсионного ИК анализатора. 21

 • • При реализации дисперсионного метода (рис. 2. 34) свет от источника излучения • • При реализации дисперсионного метода (рис. 2. 34) свет от источника излучения 1 проходит через исследуемую пробу 11. Каждое вещество, содержащееся в анализируемой смеси поглощает электромагнитное излучение в определенной полосе, характерной для него и в количестве пропорциональном его концентрации. Спектрометр на основе дифракционной решетки 4 расщепляет свет на узкие спектры. После этого свет проходит через быстросканирующее устройство 8, обеспечивающее выборку требуемого диапазона длин волн, и в фотоэлектронном умножителе 9 преобразуется в электрический сигнал. Далее информация по оптическому волокну передается в анализатор 10. 22

В абсорбционной спектрометрии в зависимости от определяемых компонентов используются источники инфракрасного или ультрафиолетового излучения. В абсорбционной спектрометрии в зависимости от определяемых компонентов используются источники инфракрасного или ультрафиолетового излучения. В связи с этим различают инфракрасную или ультрафиолетовую спектрометрию. 23

Методами ультрафиолетовой спектрометрии определяют многие органические соединения, растворенные в том или ином растворителе (вода, Методами ультрафиолетовой спектрометрии определяют многие органические соединения, растворенные в том или ином растворителе (вода, этилен гексан, гептан). При этом очень важно, чтобы растворитель не содержал примесей, поглощающей в той же области, что и исследуемые вещества. Данный метод обладает довольно высокой чувствительностью 0. 2 0. 5 мкг/мл. 24

Инфракрасная спектрометрия используется при анализе как органических, так и неорганических соединений. Пробы, исследуемые данным Инфракрасная спектрометрия используется при анализе как органических, так и неорганических соединений. Пробы, исследуемые данным методом, могут быть жидкими, твердыми и газообразными. ПК спектрометрия с Фурье преобразованием сигнала применяется для надежной идентификации сложных смесей. 25

Среди методов спектрометрии выделяют лазерные методы. Специфичность лазерного излучения (монохроматичность, высокая энергетическая плотность, направленность Среди методов спектрометрии выделяют лазерные методы. Специфичность лазерного излучения (монохроматичность, высокая энергетическая плотность, направленность и поляризованность) позволяет проводить анализ не во всей полосе поглощения, характерной для определяемого вещества, а на отдельной линии из этой полосы, что повышает избирательность и точность метода. Наиболее универсальным из лазерных источников излучения для проведения экологического анализа является светодиод, так как в интервале его излучения 3 40 мкм лежит полоса поглощения большинства молекул. 26

1 светодиод, 2, 5 рабочая и сравнительная кюветы, 3 монохроматор, 4, 6 фотодиоды, 7 1 светодиод, 2, 5 рабочая и сравнительная кюветы, 3 монохроматор, 4, 6 фотодиоды, 7 сферические зеркала. 8 линза Рис. 2. 35. Блок схема спектрометра на основе диодных лазеров. 27

Фурье-спектрометрия. Фурье спектрометрия (Фурье спектроскопия) метод оптической спектроскопии, при котором получение спектра происходит в Фурье-спектрометрия. Фурье спектрометрия (Фурье спектроскопия) метод оптической спектроскопии, при котором получение спектра происходит в две стадии: регистрация интерферограммы исследуемого излучения и последующее вычисление его спектра с помощью Фурье преобразования. 28

Основным конструкционным элементом любого Фурье спектрометра является интерферометр Майкельсона. 1 источник излучения, 2 светоделитель, Основным конструкционным элементом любого Фурье спектрометра является интерферометр Майкельсона. 1 источник излучения, 2 светоделитель, 3 неподвижное зеркало, 3' изображение неподвижного зеркала относительно светоделителя, 4 подвижное зеркало, 5 приемник излучения, 6 коллиматорные линзы. Рис. 2. 36. Схема интерферометра Майкельсона. 29

Принцип работы интерферометра Майкельсона заключается в следующем: поток излучения от источника 1 направлен на Принцип работы интерферометра Майкельсона заключается в следующем: поток излучения от источника 1 направлен на полунепроницаемое зеркало 2 (светоделитель), которое делит первоначальный поток, и часть излучения попадает на плоское непрозрачное неподвижное зеркало 3, а другая часть излучения попадает на плоское непрозрачное подвижное зеркало 4. Подвижное зеркало движется поступательно в направлении, нормальном к своей поверхности. Если расстояния от светоделителя до зеркал 3 и 4 различны, то потоки, отраженные от обоих зеркал 3 и 4 имеют оптическую разность хода δ после прохождения различных оптических путей и один из них приобретает временную задержку т по отношению к другому. Потоки, приходящие от обоих зеркал 3 и 4 снова смешиваются, а так как они приходят со сдвигом по фазе, то они интерферируют и сигнал на фотоприёмнике 5 (интерферограмма) представляет собой совокупность интерференционных колец равного наклона. 30

Фотоприемник 5 регистрирует усредненную за время Q (постоянная времени приемно регистрирующей системы) интенсивность излучения: Фотоприемник 5 регистрирует усредненную за время Q (постоянная времени приемно регистрирующей системы) интенсивность излучения: IQ(t)=(pu/2)[E(t)+E(t τ)]2, где р пропускание, р геометрический фактор прибора, E(t) амплитуда электрического поля входящего излучения, которая является случайной функцией, так как излучение света является случайным процессом. Если Q много больше времени когерентности (что обязательно выполняется на практике), то Е 2(t)=E 2(t-τ)=I 0 средняя постоянная по времени величина, а I(τ)=E(t)*E(t-τ) функция автокорелляции, зависящая от времени задержки τ. Тогда IQ(t)=pu[I 0+ I(τ)]. 31

Функцию автокорреляции случайного процесса можно представить интегралом Фурье: Обратное Фурье преобразование дает: Для действительных Функцию автокорреляции случайного процесса можно представить интегралом Фурье: Обратное Фурье преобразование дает: Для действительных значений E(t) функции 1(т) и В'(со) четные и выражение принимает вид: где величина В(ω) спектральная плотность процесса E(t) или просто спектр. 32

 • Особенностью Фурье спектрометров является то, что их разрешающая способность не связана с • Особенностью Фурье спектрометров является то, что их разрешающая способность не связана с размерами оптических элементов, а определяется максимальным смещением подвижного зеркала в интерферометре. Если диапазон исследуемых частот простирается от v 1 до v 2, то число спектральных полос на интерферограмме равно: M=(v 2–v 1)/2∆v. • Таким образом, интерферограмма представляет собой совокупность интерференционных колец равного наклона, число которых равно М, и регистрируемых через равные интервалы оптической разности хода δ. Интенсивность полос убывает по мере удаления от центра. 33

Если в классическом спектрометре спектральные элементы измеряются последовательно, то в Фурье спектрометре вся спектральная Если в классическом спектрометре спектральные элементы измеряются последовательно, то в Фурье спектрометре вся спектральная информация, содержащаяся в исследуемом излучении поступает на приемник в течение всего времени регистрации интерферограммы. 34

I камера интерферометра, II камера кювет, III камера приемника, IV электронный блок. 1 He-Ne I камера интерферометра, II камера кювет, III камера приемника, IV электронный блок. 1 He-Ne лазер, 2 источник ИК излучения, 3 подвижное зеркало интерферометра, 4 кювета, 5 пироэлектрический приемник излучения Рис. 2. 37. Оптическая блок схема Фурье спектрометра. 35

 • • • В камере интерферометра I расположен нихромовый излучатель 2 с системой • • • В камере интерферометра I расположен нихромовый излучатель 2 с системой водяного охлаждения. Параллельное перемещение подвижного зеркала 3 интерферометра обеспечивается использованием специального подшипника и осуществляется с помощью линейного электродвигателя. На блоке интерферометра закреплены оптопары датчики границ перемещения подвижного зеркала 3. Для отсчета оптической разности хода имеется референтный канал, использующий в качестве источника гелий неоновый лазер 1 с λ=0, 6328 мкм, излучение которого регистрируется после прохождения через интерферометр. Сигнал референтного канала представляет собой серию импульсов, соответствующих изменению оптической разности хода на λ/2=0, 3164 мкм. Импульсы референтного канала используются так же для запуска АЦП. Камера кювет II предназначена для размещения газовых и жидкостных кювет 4. В камере приемника III размещается пироэлектрический приемник 5 и зеркало, фокусирующее излучение на приемнике. В состав электронного блока IV входят плата усилителя, АЦП, плата сканирования и источник питания. Электронный блок предназначен для усиления и фильтрации электрического сигнала, поступающего с приемника, установки режимов работы усилителя, источника излучения, управления подвижным зеркалом интерферометра. 36

Для идентификации вещества сравнивают полученные ИК спектры с библиотечными (известные спектры поглощения анализируемых компонентов) Для идентификации вещества сравнивают полученные ИК спектры с библиотечными (известные спектры поглощения анализируемых компонентов) и определяют количество вещества следующим образом: Пусть (αobs(v) измеренный спектр поглощения газовой смеси, равный: где T(v) пропускание кюветы с исследуемой смесью, d длина оптического пути в кювете. 37

Если пренебречь возможным изменением формы спектров в зависимости от концентрации, то спектр поглощения газовой Если пренебречь возможным изменением формы спектров в зависимости от концентрации, то спектр поглощения газовой смеси может быть аппроксимирован выражением: где αi(ν) библиотечные спектры поглощения возможных составляющих смеси, xi коэффициенты, связанные с концентрацией соответствующих компонентов смеси, N число компонент. 38

Суммарное квадратическое отклонение S, используемое в качестве критерия аппроксимации равно: где суммирование распространяется на Суммарное квадратическое отклонение S, используемое в качестве критерия аппроксимации равно: где суммирование распространяется на всю рассматриваемую спектральную плоскость, а коэффициенты xi подбираются таким образом, чтобы отклонение аппроксимирующего спектра от измеренного было минимальным. 39

Основные технические характеристики ИК Фурье спектрометра Характеристика Значение Рабочая область спектра 450 -4000 см-1 Основные технические характеристики ИК Фурье спектрометра Характеристика Значение Рабочая область спектра 450 -4000 см-1 Разрешение по спектру 0, 25 см-1 Максимальное перемещение зеркала Скорость сканирования 100 мм 0, 16 см/с Источник излучения нихром-керамика 1050°С Приемник излучения пироэлектрический Li. Ta. O 3 Светоделитель КВr Разрядность АЦП 16 бит Время преобразования АЦП 10 мкс 40