Многолучевая интерференция 1 Интерференция в тонких пленках изменение

Многолучевая интерференция 1. Интерференция в тонких пленках изменение фазы при отражении оптическая разность хода условие максимума условие минимума 1

Рассматриваем ИФ в тонких пленках как результат двухлучевой интерференции на локальном участке пленки и сложения многих пар лучей всей поверхности пленки - геометрическая разность хода; - оптическая разность хода Стандартная методика расчета разности фаз через оптическую разность хода основана на использовании длины волны излучения в вакууме 1 а. Полосы равной толщины пленка неоднородна по толщине Полосы равной толщины локализованы на поверхности пленки

1 б. Полосы равного наклона пленка строго плоскопараллельна, расходящийся пучок лучей Конечность размеров источника не приводит к снижению видности (смазыванию) полос

2. Слои с нулевой отражающей способностью и высоко отражающие слои При строгом анализе интерференцию в тонких пленках нужно рассматривать как многолучевую ρ - коэффициент отражения; σ - коэффициент пропускания Рассмотрим нормальное падение лучей на пленку, толщиной d. Показатели преломления: n 1 - окружающая среда; n 2 - пленка Содержат информацию об изменении фазы при отражении

Рассмотрим суперпозицию волн, прошедших через пленку. Разность хода между соседними волнами составляет 2 dn

2 а. Слой с нулевой отражающей способностью

2 б. слой с высокой отражающей способностью

3. Интерферометр Фабри-Перо коэффициент отражения коэффициент пропускания разность хода разность фаз

коэффициент резкости интенсивность света на выходе интерферометра

3 а. Интерференционная картина в расходящемся пучке главные максимумы

3 б. Интерференционные фильтры