Скачать презентацию Лекция 5 Дифракция света 2 4 4 Скачать презентацию Лекция 5 Дифракция света 2 4 4

Lection 5 difraction.ppt

  • Количество слайдов: 17

Лекция 5. Дифракция света (2) § 4. 4. Дифракция Фраунгофера на одной щели. § Лекция 5. Дифракция света (2) § 4. 4. Дифракция Фраунгофера на одной щели. § 4. 5. Количественный критерий для определения вида дифракции. § 5. 3. Дифракционная решетка. § 5. 4. Дифракция на пространственной решетке. Формула Вульфа — Брэггов. § 5. 5. Разрешающая способность оптических приборов.

§ 5. 1. Дифракция Фраунгофера на одной щели Дифракция Фраунгофера – дифракция плоских световых § 5. 1. Дифракция Фраунгофера на одной щели Дифракция Фраунгофера – дифракция плоских световых волн (или дифракцию в параллельных лучах), наблюдается когда источник света и точка наблюдения бесконечно удалены от преграды. Точечный источник света S помещается в фокусе собирающей линзы, а дифракционную картину получают в фокальной плоскости Э второй линзы Л. Плоская монохроматическая световая волна падает нормально непрозрачному экрану, в котором находится узкая щель шириной b. Зоны Френеля в плоскости щели MN имеют вид полос || ребру М щели. Оптическая разность хода между крайними лучами МС и ND, идущими в направлении ϕ (угол дифракции) : Δ=NF =b⋅sinϕ F – основание ┴ из т. М на луч ND Ширина зон Френеля выбирается так, чтобы разность хода от их краев была равна /2, тогда число зон на ширине щели = : /2 (зависит от ϕ).

При дифракции Фраунгофера: все точки волнового фронта в плоскости щели колеблются в одной фазе, При дифракции Фраунгофера: все точки волнового фронта в плоскости щели колеблются в одной фазе, амплитуда вторичных волн одинакова для всех зон, не зависит от расстояния до точки наблюдения, коэффициент С(ϕ)=const. Амплитуда результирующих колебаний при интерференции света от каждой пары соседних зон Френеля = 0 (колебания взаимно гасятся). Если число зон Френеля четное Если число зон Френеля нечетное b sin =± 2 m /2 (m= 1, 2, 3, . . . ), b sin =±(2 m+1) /2 (m=1, 2, 3, . . . ), то в точке В наблюдается дифракционный минимум дифракционный максимум, (полная темнота) Амплитуда результирующей волны при угле ϕ: отвечающий действию одной нескомпенсированной зоны Френеля В точке B 0 при ϕ=0 (число зон Френеля =1 )наблюдается центральный дифракционный максимум. Интенсивность света при угле ϕ: Т. к. I−ϕ=I+ϕ, то дифракционная картина симметрична относительно т. В 0.

Дифракция плоской волны на экране с круглым отверстием a →∞ При освещении щели белым Дифракция плоской волны на экране с круглым отверстием a →∞ При освещении щели белым светом центральный максимум имеет вид белой полоски; он общий для всех . Боковые максимумы радужно окрашены, так как условие максимума при любых т различно для разных . Справа и слева от центрального максимума будут максимумы первого (m=1), второго (m=2) и т. д. порядков с фиолетовым краем к центру дифракционной картины.

§ 5. 2. Количественный критерий для определения вида дифракции. Характер дифракционной картины зависит от § 5. 2. Количественный критерий для определения вида дифракции. Характер дифракционной картины зависит от того, сколько зон Френеля укладывается в отверстии. Определяется значением параметра дифракции ρ, равного отношению размера первой зоны Френеля к размеру отверстия r 0. Радиус первой зоны Френеля равен r 1=√Lλ, тогда ρ=√Lλ /r 0. Различают следующие характерные области дифракции света: ρ<<1 - область геометрической оптики; число зон Френеля, укладывающихся на препятствии, очень большое, дифракция незаметна ρ ~ 1 - область дифракции Френеля ; ρ>>1 - область дифракции Фраунгофера. При фиксированном размере отверстия r 0 и длине падающей волны λ по мере удаления точки наблюдения от отверстия (т. е. с увеличением L) последовательно проходят указанные области.

Распределение интенсивности света на экране, расположенном за отверстием в виде кольца, по мере увеличения Распределение интенсивности света на экране, расположенном за отверстием в виде кольца, по мере увеличения расстояния между отверстием и экраном. Число открытых зон уменьшается слева направо.

§ 5. 3. Дифракционная решетка Дифракционные решетки - периодические структуры, выгравированные специальной делительной машиной § 5. 3. Дифракционная решетка Дифракционные решетки - периодические структуры, выгравированные специальной делительной машиной на поверхности стеклянной или металлической пластинки Расстояние d между соответственными точками соседних щелей называется - это совокупность большого числа одинаковых щелей, отстоящих друг от друга на одно и то же расстояние. периодом решетки: d = a + b. Дифракция Фраунгофера На решетку с числом щелей N падает нормально плоская волна λ. Экран - в фокальной плоскости линзы. Линза собирает в точке P все параллельные лучи, идущие под углом φ. Амплитуда результирующего колебания в точке P – результат многолучевой интерференции вторичных волн, с учетом их фаз и амплитуд.

Разность хода лучей, идущих от соответственных точек соседних щелей найдем из треугольника ABC Условия Разность хода лучей, идущих от соответственных точек соседних щелей найдем из треугольника ABC Условия максимума: Условие главного максимума для дифракционной решетки : m = 0, ± 1, ± 2, … Целое число m - порядок дифракционного максимума. В максимуме колебания в точку P будут приходят в одинаковой фазе. Каждая щель создает в Р колебания с амплитудой зависящей от φ: Результирующая амплитуда Aр в P (в главном максимуме) будет в N раз , больше амплитуды от одной щели: Интенсивность в главном максимуме: Зависимость интенсивности дифракционной картины решетки от угла дифракции φ для произвольной точки экрана: I 0 - интенсивность, создаваемая одной щелью при φ = 0 Дифракция от одной щели Интерференция от N щелей

Минимумы интенсивности дифракционной картины решетки Условия минимумов получаются, если проанализировать на минимум выражение Iр(φ): Минимумы интенсивности дифракционной картины решетки Условия минимумов получаются, если проанализировать на минимум выражение Iр(φ): а) условие минимума для дифракции на щели: б) условие главного минимума для решетки: Колебания от соседних щелей приходят в точку P в противофазе и попарно гасят друга; в) условие добавочных минимумов: k'- целое число не кратное N (при k' кратном N - условие максимума) Чтобы N волн погасили друга, разность фаз должна измениться на 2π/N (соответствующая разность хода - на λ / N) , а не на π, как при интерференции двух волн. Условие для добавочных минимумов, ближайших к главным максимумам порядка m, получим, положив k' = m. N ± 1 : Добавка λ/N дает условие минимума, ближайшего к главному максимуму. Угловую полуширина δθ главных максимумов оценим:

Распределение интенсивности при дифракции монохроматического света на решетках с различным числом щелей. I 0 Распределение интенсивности при дифракции монохроматического света на решетках с различным числом щелей. I 0 – интенсивность колебаний при дифракции света на одной щели При дифракции света на решетках с большим числом N главные максимумы чрезвычайно узки и интенсивны.

График интенсивности Ip(Sinφ ) N = 4, d = 4 b, а длина волны График интенсивности Ip(Sinφ ) N = 4, d = 4 b, а длина волны λ = b/2 интенсивность дифракционной картины от одной щели, помноженная на N 2. Так как модуль sin 1, то из условия главных максимумов следует, что число наблюдаемых главных максимумов m d/. Не все из них реализуются. Исчезают те, положение которых совпадает с минимумами дифракционной картины от одной щели. Sinφ

§ 5. 4. Дифракция на пространственной решетке. Формула Вульфа — Брэггов (1913 г. ). § 5. 4. Дифракция на пространственной решетке. Формула Вульфа — Брэггов (1913 г. ). Кристаллы представляют собой природные трехмерные пространственные решетки с постоянной порядка 10 -10 м и могут использоваться в качестве дифракционных решеток для рентгеновского излучения ( рентгеновского излучения ~10 -12― 10 -8 м). Дифракция рентгеновских лучей является результатом интерференции когерентных вторичных волн 1'и 2‘, возбуждаемых при отражения от системы параллельных кристаллографических плоскостей, в которых лежат узлы (атомы) кристаллической решетки. Дифракционный максимум θ – угол скольжения, дополнительный к наблюдается при разности углу падения хода между двумя лучами, отраженными от соседних кристаллографических плоскостей, кратной целому числу длин волн . 2 dsin =±m (m=1, 2, . . . ) формула Вульфа — Брэггов Рентгеноструктурный анализ: метод определения структуры вещества. Наблюдая дифракцию рентгеновских лучей с известной λ на кристалле и измеряя и m, находят межплоскостные расстояния (d).

§ 5. 5. Разрешающая способность оптических приборов Дифракционная решетка и призма являются спектральными приборами § 5. 5. Разрешающая способность оптических приборов Дифракционная решетка и призма являются спектральными приборами Положение главных максимумов (кроме нулевого) зависит от длины волны λ. Решетка способна разлагать излучение в спектр. Если на решетку падает немонохроматическое излучение, то в каждом порядке дифракции (при каждом m) возникает спектр этого излучения. Фиолетовая часть спектра располагается ближе к максимуму 0 порядка. Разложение белого света в спектр с помощью дифракционной решетки Зная постоянную решетки d, измерив на опыте угол φ, отвечающий максимуму порядка m, из условия главного максимума определяют длину волны λ. Если в спектре присутствуют две близкие линии, длины волн которых λ 1 и λ 2 = λ 1 + δλ, то возможность их раздельного восприятия (разрешения) определяется двумя причинами: а) угловым расстоянием между максимумами; б) шириной линий.

Угловая дисперсия Положение спектральной линии задается углом, определяемым направлением нормали к волновому фронту после Угловая дисперсия Положение спектральной линии задается углом, определяемым направлением нормали к волновому фронту после дисперсионного элемента. Угловой дисперсией D называется величина, определяемая отношением углового расстояния dϕ между направлениями для двух спектральных линий, отличающихся по длине волны на dλ. Определим угловую дисперсию решетки: При малых φ Cosφ ≈ 1 : Дисперсия тем больше, чем меньше период решетки d и чем выше порядок m наблюдаемого спектра.

Линейная дисперсия При наблюдении положения линий на экране или фотопластинке удобно заменить угловое расстояние Линейная дисперсия При наблюдении положения линий на экране или фотопластинке удобно заменить угловое расстояние между линиями линейным расстоянием dl Линейная дисперсия: При наблюдении дифракции с помощью собирающей линзы при малых углах (φ << 1): F - фокусное расстояние линзы, проецирующей спектр на экран Если наблюдение дифракционной картины ведется без линзы, на большом расстоянии L от решетки, то тогда при малых углах: Разрешающая сила дифракционной решетки Разрешающей способностью (силой) спектрального прибора называют безразмерную величину: — абсолютное значение минимальной разности длин волн двух близких спектральных линий, при которой эти линии регистрируются раздельно. Разрешающая сила R есть величина, обратная относительной погрешности определения длины волны.

Критерий Релея: Изображения двух близлежащих одинаковых точечных источников или двух близлежащих спектральных линий с Критерий Релея: Изображения двух близлежащих одинаковых точечных источников или двух близлежащих спектральных линий с равными интенсивностями и одинаковыми симметричными контурами разрешимы, если центральный максимум дифракционной картины от одного источника (линии) совпадает с первым минимумом дифракционной картины от другого. разрешимы неразрешимы Два близких максимума воспринимаются глазом раздельно, если интенсивность в промежутке между ними составляет не более 80% от интенсивности максимума. Решетка разрешает 2 линии, если главный максимум линии λ + δλ и добавочный минимум линии λ совпадает, следовательно: N - число щелей, участвующих в образовании главного максимума порядка m. Максимальная разрешающая способность решетки определяется ее общей шириной: Nd – размер решетки, участвующий в образовании максимума mmах

Пример: Решетка имеет период d = 10– 3 мм, ее длина L = 10 Пример: Решетка имеет период d = 10– 3 мм, ее длина L = 10 см. Тогда, N = 105 (это хорошая решетка). В спектре 2 -го порядка разрешающая способность решетки R = 2· 105. Минимально разрешимый интервал длин волн в зеленой области спектра (λ = 550 нм) равен Δλ = λ / R ≈ 2, 8· 10– 3 нм.