Лекция 1 ВВЕДЕНИЕ Основные

Скачать презентацию Лекция 1  ВВЕДЕНИЕ Основные Скачать презентацию Лекция 1 ВВЕДЕНИЕ Основные

Основные технологич. операции ИС.ppt

  • Количество слайдов: 44

>   Лекция 1  ВВЕДЕНИЕ Основные технологические процессы изготовления кремниевых ИС Лекция 1 ВВЕДЕНИЕ Основные технологические процессы изготовления кремниевых ИС

>Технологические операции получения пластин из слитка  Обрезание затравочной и хвостовой части  слитка-були Технологические операции получения пластин из слитка Обрезание затравочной и хвостовой части слитка-були Обдирка боковой поверхности до нужного диаметра Шлифовка одного или нескольких базовых срезов Резка слитка на пластины Снятие фаски с боковых поверхностей пластин Обработка поверхности пластин

>Дополнительные и базовые срезы     ОБС: Ориентация    Дополнительные и базовые срезы ОБС: Ориентация пластин при обработке ДБС: ориентация поверхности и тип проводимости

>Снятие фаски Снятие фаски

>    Резка слитка обуславливает:     -ориентацию поверхности Резка слитка обуславливает: -ориентацию поверхности - толщину - плоскопараллельность - прогиб Резка монокристаллической були кремния на пластины. D = 30, 60, 90, 100, 150, 300 мм… В 2011 г. наметился переход на 450 мм! 30 -90 – теперь не бывает (для Si)!!! - УЧЕБНИКИ БЫСТРО СТАРЕЮТ! h = 200 - 500 мкм (0. 2 – 0, 5 мм)

>Резка слитка на пластины Резка слитка на пластины

>Нарушенный слой на поверхности пластин образуется после резки     1 – Нарушенный слой на поверхности пластин образуется после резки 1 – рельефный 2 – трещиноватый 3 - напряженный

>Удаление остатков нарушенного слоя и   загрязнений Удаление остатков нарушенного слоя и загрязнений

>Параметры пластин Параметры пластин

>Часть 2. Эпитаксия – процесс наращивания тонких монокристаллических слоев на монокристаллических подложках Рост кристаллической Часть 2. Эпитаксия – процесс наращивания тонких монокристаллических слоев на монокристаллических подложках Рост кристаллической пленки происходит при температуре ниже температуры плавления Гомоэпитаксия (автоэпитаксия) – материал слоя идентичен материалу подложки Гетероэпитаксия – материал слоя и подложки различаются Эпитаксия из газовой фазы (ГФЭ), из жидкой фазы (ЖФЭ), эпитаксия из молекулярных пучков в вакууме (МЛЭ), эпитаксия из твердой фазы (ТФЭ)

>Эпитаксия из газовой фазы (парогазовой смеси)  Проверенный способ  получения слоев кремния Эпитаксия из газовой фазы (парогазовой смеси) Проверенный способ получения слоев кремния Наиболее распространены хлоридный и силановый методы ГФЭ

>Модели эпитаксиального роста Модели эпитаксиального роста

>Зависимость скорости роста ЭС от  различных параметров при ГФЭ   Re<2000 – Зависимость скорости роста ЭС от различных параметров при ГФЭ Re<2000 – ламинарное течение, Re>2000 – турбулентное течение

>  Реакторы для ГФЭ Легирующие добавки в ПГС: PCl 3, PBr 3, PH Реакторы для ГФЭ Легирующие добавки в ПГС: PCl 3, PBr 3, PH 3, B 2 H 6

>Автолегирование при эпитаксии Автолегирование при эпитаксии

>Автолегирование при наличии скрытых    слоев Автолегирование при наличии скрытых слоев

>Жидкофазная эпитаксия Жидкофазная эпитаксия

>ЖФЭ: кристаллизация монокристаллических слоев осуществляется из растворов-расплавов полупроводника в легкоплавком металле-растворителе n Реализуется в ЖФЭ: кристаллизация монокристаллических слоев осуществляется из растворов-расплавов полупроводника в легкоплавком металле-растворителе n Реализуется в изотермических (испарение растворителя, изотермическое смешивание) и неизотермических (принудительное охлаждение, переохлаждение раствора- расплава) условиях n Используется для получения многослойных структур на основе соединений АIIIВV n используется при изготовлении инжекционных лазеров, источников спонтанного излучения, туннельных диодов

>Открытые методы ЖФЭ Открытые методы ЖФЭ

>Открытые методы ЖФЭ Открытые методы ЖФЭ

>Открытые методы ЖФЭ Открытые методы ЖФЭ

>  Молекулярно-лучевая   эпитаксия,  или эпитаксия из молекулярных   пучков Молекулярно-лучевая эпитаксия, или эпитаксия из молекулярных пучков в вакууме

>  Часть 3  Основные методы легирования в микроэлектронике Цель процессов легирования – Часть 3 Основные методы легирования в микроэлектронике Цель процессов легирования – создание областей разного типа проводимости

>Ионная имплантация,  или Ионное легирование Ионная имплантация, или Ионное легирование

>  Ионная имплантация (ИИ, ИЛ) -ИЛ – метод легирования кремниевых пластин -Ионы примеси, Ионная имплантация (ИИ, ИЛ) -ИЛ – метод легирования кремниевых пластин -Ионы примеси, обладающие высокой кинетической энергией, внедряются в кристаллическую решетку кремния Схематическое представление процесса ионной имплантации

>   Ионное легирование Достоинства метода: n Контролируемое введение примеси n Полная совместимость Ионное легирование Достоинства метода: n Контролируемое введение примеси n Полная совместимость с процессами планарной технологии n Однородность легирования n Возможность создания малой области легирования на заданной глубине, в том числе мелкозалегающих слоев n Особо чистые условия процесса Недостатки метода: n Нарушение кристаллической структуры n Эффект каналирования

>Оборудование для ИЛ Оборудование для ИЛ

>Установка ионной имплантации Установка ионной имплантации

>Ионная имплантация      Системы   сканирования   Ионная имплантация Системы сканирования пучка ионов

>Ионная имплантация Ионная имплантация

>Ионная имплантация  Теория Линдхарда,   Шарфа, Шиотта Ионная имплантация Теория Линдхарда, Шарфа, Шиотта

>Эффект каналирования   В определенном диапазоне углов   падения ионов возможно движение Эффект каналирования В определенном диапазоне углов падения ионов возможно движение ионов между атомными плоскостями

>    Диффузия - - Это процесс переноса примесей из области с Диффузия - - Это процесс переноса примесей из области с высокой в область с низкой концентрацией, стимулированный высокой температурой - Методом диффузии формируют активные, пассивные элементы ИС и изоляцию - Источники легирующих примесей могут быть твердые, жидкие и газообразные

>   Диффузия - Диффузия, в отличие от ИЛ, проводится при высокой температуре Диффузия - Диффузия, в отличие от ИЛ, проводится при высокой температуре -Профиль распределения примеси при диффузии и ионной имплантации разные

>Доноры и акцепторы Доноры и акцепторы

>Кривые Ирвина Кривые Ирвина

>Особенности процесса диффузии -акцепторные диффундируют быстрее, чем донорные, из-за меньшего радиуса -Твердые источники примесей Особенности процесса диффузии -акцепторные диффундируют быстрее, чем донорные, из-за меньшего радиуса -Твердые источники примесей могут находиться на поверхности пластины, могут вне на небольшом расстоянии - газообразные примеси подают по магистралям из баллонов в потоке газа-носителя

>Механизмы диффузии   Закон Фика    Уравнение диффузии   Механизмы диффузии Закон Фика Уравнение диффузии Граничные и начальные условия

>Решение уравнения диффузии   Из неограниченного   источника    Из Решение уравнения диффузии Из неограниченного источника Из ограниченного источника

>Две стадии диффузии   Источник примеси –   примесно-силикатное   Две стадии диффузии Источник примеси – примесно-силикатное стекло (БСС, ФСС) или газ 1 -я стадия – загонка примеси, 2 - разгонка

>Оборудование для диффузии Оборудование для диффузии

>Оборудование для диффузии Оборудование для диффузии

>Установка термической диффузии Установка термической диффузии

> Спасибо за внимание! Спасибо за внимание!