Скачать презентацию Источники и виды излучения для структурного анализа n Скачать презентацию Источники и виды излучения для структурного анализа n

Lecture 04(2).ppt

  • Количество слайдов: 42

Источники и виды излучения для структурного анализа n Рентгеновские трубки, n Ускорители заряженных частиц. Источники и виды излучения для структурного анализа n Рентгеновские трубки, n Ускорители заряженных частиц. Рентгеновская трубка.

Материал анода трубки и характеристики излучения Cr Fe Cu Mo Z (номер элемента) 24 Материал анода трубки и характеристики излучения Cr Fe Cu Mo Z (номер элемента) 24 26 29 42 , Å 2. 2896 1. 9360 1. 5405 0. 70926 , Å 2. 2935 1. 9399 1. 5443 0. 71354 , Å 2. 2909 1. 9373 1. 5418 0. 71069 , Å 2. 0848 1. 7565 1. 3922 0. 63225 , filt. V, 0. 4 mil Mn, 0. 4 mil Ni, 0. 6 mil Nb, 3 mils , filt. Ti Cr Co Y Минимальное d Å(разрешение), 1. 15 0. 95 0. 75 0. 35 Потенциал возбуждения , k. V 5. 99 7. 11 8. 98 20. 0 Рабочее напряжение, k. V: 30 -40 35 -45 50 -55 Спектр излучения от трубки.

Источники и виды излучения для структурного анализа Источники нейтронов: 1. Ядерные реакторы. 2. 9 Источники и виды излучения для структурного анализа Источники нейтронов: 1. Ядерные реакторы. 2. 9 Be( , n)12 C (Ra, Po, Pu, ) Схема установок на реакторе Физико-химического института РАН, Обнинск.

Элементы теории рассеяния. Методы дифракционных исследований. 1. 2. 3. 4. Метод Лауэ Метод качания Элементы теории рассеяния. Методы дифракционных исследований. 1. 2. 3. 4. Метод Лауэ Метод качания (вращения) Метод Косселя Метод порошка.

Методы дифракционных исследований. Transmission Laue camera. n const. Метод Лауэ. Примеры Лауэграмм Методы дифракционных исследований. Transmission Laue camera. n const. Метод Лауэ. Примеры Лауэграмм

Методы дифракционных исследований. Метод Лауэ. n Объяснение дифракционной картины с помощью построения Эвальда. const. Методы дифракционных исследований. Метод Лауэ. n Объяснение дифракционной картины с помощью построения Эвальда. const. Результат съемки: фотопластина с рефлексами от различных зоны решетки. Результат служит для определения Лауэ-класса кристалла и ориентации кристалла. Измерение повторяется для других ориентаций, пока не будет достигнута необходимая ориентация.

Методы дифракционных исследований. n Метод качания (вращения) n – метод Вайсемберга. = const. Результат Методы дифракционных исследований. n Метод качания (вращения) n – метод Вайсемберга. = const. Результат съемки: фотопластина с рефлексами от определенного слоя обратной решетки. Осуществляется индицирование рефлексов и измерение интенсивности. Измерение повторяется для других слоев.

= const. Методы дифракционных исследований. Метод съемки обратной n решетки. Результат съемки: фотопластина = const. Методы дифракционных исследований. Метод съемки обратной n решетки. Результат съемки: фотопластина с рефлексами – метод Бюргера. от определенного слоя обратной решетки. Осуществляется индицирование рефлексов и измерение интенсивности. Измерение повторяется для других слоев.

Методы дифракционных исследований. Монокристальный дифрактометр. = const. Результат съемки: таблица: I, hkl Методы дифракционных исследований. Монокристальный дифрактометр. = const. Результат съемки: таблица: I, hkl

Методы дифракционных исследований. n Метод порошка (Дебая). Камера Дебая-Шеррера - const. Методы дифракционных исследований. n Метод порошка (Дебая). Камера Дебая-Шеррера - const.

Методы дифракционных исследований. Порошковый (поликристальный) дифрактометр. Принципиальная схема движения лучей. Детектор Рентгеновская трубка Монохроматор Методы дифракционных исследований. Порошковый (поликристальный) дифрактометр. Принципиальная схема движения лучей. Детектор Рентгеновская трубка Монохроматор Кювета с образцом

Методы дифракционных исследований. Гониометр поликристального дифрактометра. Методы дифракционных исследований. Гониометр поликристального дифрактометра.

Методы дифракционных исследований. Theta-Theta Cubi. X PRO diffractometer Методы дифракционных исследований. Theta-Theta Cubi. X PRO diffractometer

Элементы теории рассеяния. Вторичное излучение. С учетом эффекта поляризации Движение заряда в поле Амплитуда Элементы теории рассеяния. Вторичное излучение. С учетом эффекта поляризации Движение заряда в поле Амплитуда вторичного излучения

Элементы теории рассеяния. Физическая основа рентгеноструктурного анализа. в. Рассеяние рядом центров. n Условие усиления Элементы теории рассеяния. Физическая основа рентгеноструктурного анализа. в. Рассеяние рядом центров. n Условие усиления волн: a(cos - cos )=p

Элементы теории рассеяния. Физическая основа рентгеноструктурного анализа. Уравнения Лауэ. n a(cos 1 - cos Элементы теории рассеяния. Физическая основа рентгеноструктурного анализа. Уравнения Лауэ. n a(cos 1 - cos 1)=p b(cos 2 - cos 2)=q c(cos 3 - cos 3)=r

Элементы теории рассеяния. Физическая основа рентгеноструктурного анализа. Уравнение Вульфа-Бреггов. n n = 2 d Элементы теории рассеяния. Физическая основа рентгеноструктурного анализа. Уравнение Вульфа-Бреггов. n n = 2 d sin

Интерференционное уравнение. Элементы теории рассеяния. Вектор дифракции (из уравнения Вульфа-Бреггов) (из свойств обратной решетки) Интерференционное уравнение. Элементы теории рассеяния. Вектор дифракции (из уравнения Вульфа-Бреггов) (из свойств обратной решетки) Если вектор дифракции направлен в узел обратной решетки, то выполняются условия интерференции.

Элементы теории рассеяния. Интерференционное уравнение. При взятии обоих частей уравнения по абсолютной величине возникает Элементы теории рассеяния. Интерференционное уравнение. При взятии обоих частей уравнения по абсолютной величине возникает уравнение Вульфа-Бреггов. При скалярном умножении обоих частей уравнения на a, b, c возникают Уравнения Лауэ.

Построение Эвальда (сфера Эвальда). Элементы теории рассеяния. k/2 = S/λ k 0/2 = S Построение Эвальда (сфера Эвальда). Элементы теории рассеяния. k/2 = S/λ k 0/2 = S 0/λ 0

Элементы теории рассеяния. Элементы теории рассеяния.

Элементы теории рассеяния. Элементы теории рассеяния.