Скачать презентацию 2010電資院 頂尖企業暑期實習 經驗分享心得報告 實習學生 電資院學士班陳昶 霖 前言 l Скачать презентацию 2010電資院 頂尖企業暑期實習 經驗分享心得報告 實習學生 電資院學士班陳昶 霖 前言 l

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2010電資院 「頂尖企業暑期實習」 經驗分享心得報告 實習學生:電資院學士班陳昶 霖 2010電資院 「頂尖企業暑期實習」 經驗分享心得報告 實習學生:電資院學士班陳昶 霖

前言 l l (一 )實習時間:民國 99年 07月 01日至 99年 08月 31日,共 62天 (二 )實習地點:聯詠科技公司 前言 l l (一 )實習時間:民國 99年 07月 01日至 99年 08月 31日,共 62天 (二 )實習地點:聯詠科技公司 (三 )實習導師: 張簡博全 (四 )參與動機:希望可以藉著這次的 機會認識以後可能會從事的 作內 容與環境,也希望可以從中獲得專 業的知識,與在學校裡所學的結合。

實習單位簡介 l l l 聯詠科技為國內 IC 設計領導廠商,從事產品設計,研發及銷 售。主要產品為全系列的平面顯示螢幕用驅動 IC,以及行動 裝置及消費性電子產品上應用之數位影音 , 多媒體單晶片產 品解決方案。 自 實習單位簡介 l l l 聯詠科技為國內 IC 設計領導廠商,從事產品設計,研發及銷 售。主要產品為全系列的平面顯示螢幕用驅動 IC,以及行動 裝置及消費性電子產品上應用之數位影音 , 多媒體單晶片產 品解決方案。 自 1997 年成立以來,公司即全力投入產品研發與技術創新, 藉由業務及產品線的擴張,營運規模持續成長、績效卓著, 於 2000 年獲 證期會通過上櫃掛牌交易 ,並於 2002 年獲 准 於臺灣證券交易所上市。 聯詠科技長期致力於影像顯示及數位影音多媒體相關技術 的研發紮根,以自有技術為後盾,輔以素質優異的研發團隊 與管理,我們成功地深化技術與產品開發的經驗,加強產品 線的多樣性與應用面的廣度,再加上確切地掌握市場與產業 趨勢,目前我們的產品與服務,普遍獲得國際大廠採用與肯 定,也為企業帶來持續的成長與獲利。

實習單位簡介 l 經營理念 : 1. 創造價值 —追求企業的成長、獲利與永續發展,藉由強化核心技 術並提升服務已達到創造價值的理念。 2. 全心成全客戶 —以最大的努力承諾,提供先進的 技術、符合市 場需 求的產品、 實習單位簡介 l 經營理念 : 1. 創造價值 —追求企業的成長、獲利與永續發展,藉由強化核心技 術並提升服務已達到創造價值的理念。 2. 全心成全客戶 —以最大的努力承諾,提供先進的 技術、符合市 場需 求的產品、 密切互動與溝通、高效率的生產控管、良 好 的成本控制、確實的交期,穩定的品質、迅速的服務, 一切以客戶的滿意為最高準則。 3. 品質優先 —藉由 ISO 9001國際品質認證的品質管理制度,及對 於品 質要求的經驗傳承與訓練,每一個生產、開發、銷售 的 環節,全程以嚴謹的標準不斷驗證、檢視、偵錯、實驗。 4. 團隊合作 —團隊的創造力是聯詠更上層樓的基石,在健全舒適

自動化量測 l l l 示波器 一台 Function Generator 一台 DT-101 一台 VPNL Ripple Test 自動化量測 l l l 示波器 一台 Function Generator 一台 DT-101 一台 VPNL Ripple Test Board 電腦

自動化量測 目標: 由電腦控制儀器,大量測量面板在不 同的電壓量值、波形和頻率的情況下,面 板的閃爍程度,並觀察面板顯示情形是否 有異常情況。 自動化量測 目標: 由電腦控制儀器,大量測量面板在不 同的電壓量值、波形和頻率的情況下,面 板的閃爍程度,並觀察面板顯示情形是否 有異常情況。

自動化量測 l 方法: 1. 先將實驗所需的儀器與FPGA版設置好。 2. 完成自動化量測的Macro的設計。 3. 執行實驗前所需的Macro,已給予IC一些基本的設 定,包括: 點亮面板和調整成測量閃爍程度最嚴重 的Macro。 4. 寫圖到面板裡,並且執行自動化量測的Macro。 自動化量測 l 方法: 1. 先將實驗所需的儀器與FPGA版設置好。 2. 完成自動化量測的Macro的設計。 3. 執行實驗前所需的Macro,已給予IC一些基本的設 定,包括: 點亮面板和調整成測量閃爍程度最嚴重 的Macro。 4. 寫圖到面板裡,並且執行自動化量測的Macro。 5. 測量過程中必須注意面板顯示的情況,觀察是 否有不正常的情形發生。 6. 待儀器測量完畢後,將大筆的資料用Excel整理, 並篩選出flicker值大於標準值的資料。

自動化量測 實驗要求: 1. sinwave,電壓值有五種,分別是 4. 2 V、 3. 7 V、3. 1 V、2. 75 V、2. 自動化量測 實驗要求: 1. sinwave,電壓值有五種,分別是 4. 2 V、 3. 7 V、3. 1 V、2. 75 V、2. 55 V。頻率變化範圍 由 10 Hz到 15 MHz每 10 Hz測量一次。 2. pulsewave,duty cycle 87. 5%,Tr/Tf = 10 us,電壓值的變化與上例相同。頻率的 變化範圍則是從 205 Hz到 225 Hz每 1 Hz測量 一次。 3. pulsewave,大致上與上例相同,只是Tr/Tf 改成 100 us。 4. pulsewave,dutycycle 50%,電壓變化同 前例,頻率變化由 1到 30 k每 500 Hz測量 一次。 以上的實驗項目必須找出是否有flicker超出初始flicker(未 寫圖前的值)達 0. 1的情況。 l

自動化量測 l 實驗結果: 過程中發現當給IC的電壓在降到 2. 55 V時, 面板會自動熄滅,在詢問過指導員之後,發現是IC中 有電壓達到一定值就會自動關閉的設定。在改過IC中 的Register把偵測低電壓的功能修改掉以後,這個問 題就解決了。 在實驗的過程中最有趣的大概是發現面板在 pulsewave的情況下出現水波紋,原因大略是在VCI變 化劇烈的情況下,引發AVEE的變動而壓到GVDDN的 自動化量測 l 實驗結果: 過程中發現當給IC的電壓在降到 2. 55 V時, 面板會自動熄滅,在詢問過指導員之後,發現是IC中 有電壓達到一定值就會自動關閉的設定。在改過IC中 的Register把偵測低電壓的功能修改掉以後,這個問 題就解決了。 在實驗的過程中最有趣的大概是發現面板在 pulsewave的情況下出現水波紋,原因大略是在VCI變 化劇烈的情況下,引發AVEE的變動而壓到GVDDN的 電壓,造成本來不應該變動的GVDDN的值會有一定 週期的改變,最後影響了面板中液晶跨壓所對應的灰 階值,而造成水波紋的現象。不過在調整AVEE的倍 率之後,因為AVEE不再碰到GVDDN,所以水波紋的 現象也得以解決。

自動化量測 l 實驗結果: 在調完AVEE的倍率之後,再做一次實驗, 卻發現仍會產生水波紋,在手動調整之後,發現當我 把VCI從 3. 7 V調到 3. 1 V再調到 2. 75 自動化量測 l 實驗結果: 在調完AVEE的倍率之後,再做一次實驗, 卻發現仍會產生水波紋,在手動調整之後,發現當我 把VCI從 3. 7 V調到 3. 1 V再調到 2. 75 V時就會產生水波紋, 往上調反而不會,用示波器觀察AVDDP 1和GVDDP 的電壓圖形以後,發現當我依上述的方式調整電壓時, AVDDP 1會壓到GVDDP的電壓,造成GVDDP不穩, 在調整AVDDP 1的倍率到最大之後,現象獲得解決。 之所以往上調不會壓到而往下調卻壓到的原因可能是, IC設計時倍率對應電壓的問題,在往下調整的過程中 倍率變大使得AVDDP 1壓到GVDDP,但是往上調的 過程中倍率卻沒有變,所以沒有壓到。

Inrush current test l 目標: 測試在不同的上電速度下,VCI和 VDDI同時、VCI先、VDDI先的情況下, 是否會Letch up的現象,可由觀察Inrush current的變化來達到目的,目標在於找出 IC所能承受的最快上電速度。 Inrush current test l 目標: 測試在不同的上電速度下,VCI和 VDDI同時、VCI先、VDDI先的情況下, 是否會Letch up的現象,可由觀察Inrush current的變化來達到目的,目標在於找出 IC所能承受的最快上電速度。

Inrush current l l l 1. 示波器一台 2. 電腦 Inrush and VPNL Ripple test Inrush current l l l 1. 示波器一台 2. 電腦 Inrush and VPNL Ripple test board 一個

Inrush current test l 方法: 1. 將儀器、板子和電腦接好。 2. 執行將面板點亮的Macro,並在 板子上調整上電速率。 3. 執行進行實驗的主要Macro。 4. 觀察是否有Inrush Inrush current test l 方法: 1. 將儀器、板子和電腦接好。 2. 執行將面板點亮的Macro,並在 板子上調整上電速率。 3. 執行進行實驗的主要Macro。 4. 觀察是否有Inrush current超 過50 m. A的期間長於 100 ms的情況 發生。

Inrush current test 實驗要求: 1. 觀察 10次VCI和VDDI同時上 電的情況下Inrush current(I 和I )的圖形。 2. 觀察 10次VCI先於VDDI上電 Inrush current test 實驗要求: 1. 觀察 10次VCI和VDDI同時上 電的情況下Inrush current(I 和I )的圖形。 2. 觀察 10次VCI先於VDDI上電 的情況下Inrush current(I 和I )的圖形。 3. 觀察 10次VDDI先於VCI上電 的情況下Inrush current(I 和I )的圖形。 以上情況若Inrush current大於 50 m. A超過 100 ms則失敗。 l VCI VDDI

Inrsh current test l 實驗結果: 這次實驗只有看幾個上電速度 下的情況和是否有Letch up的情況,並沒 有特地去找最大的上電速度,找出最大上 電速度的目的在於,替廠商找出這個值並 告知他們避免廠商使用太快的上電速度而 產生Letch up的現象。 Inrsh current test l 實驗結果: 這次實驗只有看幾個上電速度 下的情況和是否有Letch up的情況,並沒 有特地去找最大的上電速度,找出最大上 電速度的目的在於,替廠商找出這個值並 告知他們避免廠商使用太快的上電速度而 產生Letch up的現象。

Gamma curve l 目標: 測量面板在不同灰階下的亮度,以 繪成Gamma curve,觀察它的對比的情 形如何,如果對比不佳,則需做修改。配 合液晶的特性調整DAC參考電壓的設定, 使得Gamma curve能達到符合大腦需求 的對比程度。 Gamma curve l 目標: 測量面板在不同灰階下的亮度,以 繪成Gamma curve,觀察它的對比的情 形如何,如果對比不佳,則需做修改。配 合液晶的特性調整DAC參考電壓的設定, 使得Gamma curve能達到符合大腦需求 的對比程度。

Gamma curve l 方法: 1. 架設好板子、面板和DT-101之後,點 亮面板。 2. 在電腦上控制欲寫入的灰階並寫入面 板,測量亮度後並記錄下各灰階所對應的亮度。 3. 在Excel上繪製成圖,並算出它的對比 值符不符合廠商的要求。 4. Gamma curve l 方法: 1. 架設好板子、面板和DT-101之後,點 亮面板。 2. 在電腦上控制欲寫入的灰階並寫入面 板,測量亮度後並記錄下各灰階所對應的亮度。 3. 在Excel上繪製成圖,並算出它的對比 值符不符合廠商的要求。 4. 交給Duncan修改對比不佳的面板。

Gamma curve l 實驗要求: 紀錄各灰階所對應到的亮度, 並輸入到Excel檔裡,以繪製成Gamma curve,並觀察測量出來的對比值符不符 合廠商的要求。 Gamma curve l 實驗要求: 紀錄各灰階所對應到的亮度, 並輸入到Excel檔裡,以繪製成Gamma curve,並觀察測量出來的對比值符不符 合廠商的要求。

Gamma curve l 實驗結果: 做過幾塊面板的測量,有時候做出來的 Gamma curve呈現有點怪異的情況,跟典型的 Gamma curve有點不同,可能是因為比較舊的面板的 關係。另外,每次作測量時,如果先寫入亮度較大的 灰階(ex. 全白)再寫入亮度較暗的灰階所測出的亮度和 一開始就先寫入暗度較暗的灰階所測出來的亮度不同, 第一種的情況所測出的亮度較大,原因可能是先寫入 Gamma curve l 實驗結果: 做過幾塊面板的測量,有時候做出來的 Gamma curve呈現有點怪異的情況,跟典型的 Gamma curve有點不同,可能是因為比較舊的面板的 關係。另外,每次作測量時,如果先寫入亮度較大的 灰階(ex. 全白)再寫入亮度較暗的灰階所測出的亮度和 一開始就先寫入暗度較暗的灰階所測出來的亮度不同, 第一種的情況所測出的亮度較大,原因可能是先寫入 較白的灰階,讓液晶的旋轉角度較大,再次寫入較黑 的灰階時,它可能有點轉不回來吧。

CRC Error l l l 吹風機 * 1 冷凝劑 * 1 紅外線溫度計 * 1 CRC Error l l l 吹風機 * 1 冷凝劑 * 1 紅外線溫度計 * 1 電腦 面板 MDDI tester * 1

CRC Error l 目標: 測試在不同的溫度環境下,在高速 傳輸的情況中,資料傳輸時會不會有CRC error一直增加的情況,過程中設定為不停 循環的寫入圖形。 CRC Error l 目標: 測試在不同的溫度環境下,在高速 傳輸的情況中,資料傳輸時會不會有CRC error一直增加的情況,過程中設定為不停 循環的寫入圖形。

CRC error l 方法: 1. 架設好環境後,從電腦上設定測試所要求的設 定ex. 某些register的值、傳輸的速度與通道數。 2. 點亮面板後準備寫圖,在寫圖之前根據不同的 溫度環境,高溫(85度C)用吹風機和紅外線溫度計調整 到所需的溫度,低溫(-30度C)則用冷凝劑,溫度達到 之後就寫圖進去,觀察電腦顯示的CRC error CRC error l 方法: 1. 架設好環境後,從電腦上設定測試所要求的設 定ex. 某些register的值、傳輸的速度與通道數。 2. 點亮面板後準備寫圖,在寫圖之前根據不同的 溫度環境,高溫(85度C)用吹風機和紅外線溫度計調整 到所需的溫度,低溫(-30度C)則用冷凝劑,溫度達到 之後就寫圖進去,觀察電腦顯示的CRC error Accumulation 欄位是否有累加的情形出現,觀察十秒 後若沒有累加即可寫入下一張圖,不同的register的設 定,必須觀察五張圖型才算PASS。

CRC error l 實驗結果: 測過兩塊面板,在高低溫和室 溫的情況中皆通過,第一次使用冷凝劑和 紅外線溫度計,感到很新鮮,也差點弄壞 一顆IC(冷凝劑溶化的水流進去),用手拿 著吹風機和溫度計還要控制電腦常會感到 手忙腳亂。 CRC error l 實驗結果: 測過兩塊面板,在高低溫和室 溫的情況中皆通過,第一次使用冷凝劑和 紅外線溫度計,感到很新鮮,也差點弄壞 一顆IC(冷凝劑溶化的水流進去),用手拿 著吹風機和溫度計還要控制電腦常會感到 手忙腳亂。

重建並分類規格中的圖 這算是這次實習做最多的 作,總共繪製並整理了NT 35560 這顆IC,AUO、China、Hitachi、Sharp、SMD、Sony、TPO、 TMD這幾家廠商的規格,和NT 35560 M這顆IC的規格,還有 Frank和Teresa另外要求的圖,畫了這麼多圖的感想是,這真的 很無聊,不過我也畫出了心得,在畫圖的時候,通常是為了把非 Visio的圖用Visio把它畫出來,所以在畫的時候,就可以使用無 腦畫圖法,把原本的圖Print Screen後,貼到小畫家上做裁剪, 之後在鈀材檢好的圖剪下,貼到你準備畫Visio的頁面上,接下來 重建並分類規格中的圖 這算是這次實習做最多的 作,總共繪製並整理了NT 35560 這顆IC,AUO、China、Hitachi、Sharp、SMD、Sony、TPO、 TMD這幾家廠商的規格,和NT 35560 M這顆IC的規格,還有 Frank和Teresa另外要求的圖,畫了這麼多圖的感想是,這真的 很無聊,不過我也畫出了心得,在畫圖的時候,通常是為了把非 Visio的圖用Visio把它畫出來,所以在畫的時候,就可以使用無 腦畫圖法,把原本的圖Print Screen後,貼到小畫家上做裁剪, 之後在鈀材檢好的圖剪下,貼到你準備畫Visio的頁面上,接下來 你就只需要照著原圖描畫,完全不須煩惱比例問題。另外,把 Visio上的一些熱鍵背起來的話也可以省下不少時間,例如: 開新 繪圖頁面(Ctrl+N)、調整頁面大小(Alt +↓+U)、關閉檔案(Alt +↓+C)、圖案置中(Alt+S+W)等,都是很好用的熱鍵。

實習收穫 這兩個月在聯詠 作,觀察到很多事情,也在我的心中刻下 了深刻的想法。對於 作的內容,我覺得在這兩個月來並沒有被 指派任何困難的事,頂多是需要耐心去處理的事(ex. Visio),學到 的專業上的知識並不算多,不過對於液晶面板的了解倒是增加了 不少,算是一大收穫。 在這裡得到最多的大概是看到同事們的 作內容、他們的生 活模式、公司辦公的環境、了解這家公司的產品,讓我對於這一 領域有了深刻的了解,也許只是部分,但已經足夠,我無法確定 我將來是否想走這一條路,因為我心中還有其他的選擇,但是唯 實習收穫 這兩個月在聯詠 作,觀察到很多事情,也在我的心中刻下 了深刻的想法。對於 作的內容,我覺得在這兩個月來並沒有被 指派任何困難的事,頂多是需要耐心去處理的事(ex. Visio),學到 的專業上的知識並不算多,不過對於液晶面板的了解倒是增加了 不少,算是一大收穫。 在這裡得到最多的大概是看到同事們的 作內容、他們的生 活模式、公司辦公的環境、了解這家公司的產品,讓我對於這一 領域有了深刻的了解,也許只是部分,但已經足夠,我無法確定 我將來是否想走這一條路,因為我心中還有其他的選擇,但是唯 一可以確定的事,這兩個月,對我來說是很重要的兩個月,雖然 沒學到太多專業的東西,但我得到了不少,或許它拓寬了我的視 野,或許它堅定了我心中的某些想法,也或許它為我累積了某種 程度的經驗。

實習心得 在兩個月的實習期間,我覺得在學過的知識中有關的大 概只有程式設計和電子學,而且也不是用到很多,只有稍微 使用到一點,寫 code時用的語言是公司自行開發的程式所搭 配的語言,因為與 C++相似,只是增加一些特殊指令,所以與 學過的程式設計有關。而做實驗所用的面板的電晶體則是 TFT(Thin-Film-Transistor),並不是電子學中學的 MOSFET和 BJT。所以有些不同。 實習的內容與自己的預期相差還蠻大的,因為原本以為所提 供的題目應該會做很久,結果沒想到三個禮拜就做完了,而 且原本以為會測量更多東西,不只是 實習心得 在兩個月的實習期間,我覺得在學過的知識中有關的大 概只有程式設計和電子學,而且也不是用到很多,只有稍微 使用到一點,寫 code時用的語言是公司自行開發的程式所搭 配的語言,因為與 C++相似,只是增加一些特殊指令,所以與 學過的程式設計有關。而做實驗所用的面板的電晶體則是 TFT(Thin-Film-Transistor),並不是電子學中學的 MOSFET和 BJT。所以有些不同。 實習的內容與自己的預期相差還蠻大的,因為原本以為所提 供的題目應該會做很久,結果沒想到三個禮拜就做完了,而 且原本以為會測量更多東西,不只是 flicker。結果,因為指導 者他們友段時間很忙,而且他們也沒有其他項目的測量的 需求,所以我就變得一直在做一些畫圖的 作。 在實習的過程當中,碰到的困難並不算多,而且遇到的困難 也不算難,我習慣在發生了一點自己預料外的情況,而且不 懂如何解決的時候去問指導者,所以也不曾遇到大麻煩的 情況。

實習後對未來之生涯規劃、期許及目標 l 這次的實習讓我了解電子 程領域未來的一些出路、竹科 裡的 作環境和 程師的生活作息,也讓我審慎的思考自 己將來是否想要從事這個行業。老實說,在這次的實習之 後,我對於自己的生涯並沒有甚麼規劃,我只是了解了電 子 程這一個領域的人的 作的情況,在電機的領域內還 有其他不同於電子的學問,而我尚未接觸,所以也無法作 出生涯規劃這類的事情。 實習後對未來之生涯規劃、期許及目標 l 這次的實習讓我了解電子 程領域未來的一些出路、竹科 裡的 作環境和 程師的生活作息,也讓我審慎的思考自 己將來是否想要從事這個行業。老實說,在這次的實習之 後,我對於自己的生涯並沒有甚麼規劃,我只是了解了電 子 程這一個領域的人的 作的情況,在電機的領域內還 有其他不同於電子的學問,而我尚未接觸,所以也無法作 出生涯規劃這類的事情。 我只能說我有一個短期的目標,在大學甚至是研究所,將 該學的課程學好,努力學習自己有興趣的,不包括電機系 的課,甚至是別的系所的課也沒關係,也可以多累積一些 其他的 作經驗之類的。