Методы сканирующей зондовой микроскопии

Методы сканирующей зондовой микроскопии • ЭСМ, МСМ, СБОМ

Электросиловая микроскопия (ЭСМ)

Схема измерения электрического взаимодействия зонда с образцом

Двухпроходная методика ЭСМ

Рельеф поверхности (a) и распределение поверхностного потенциала (b) композитной пленки, содержащей азобензол

Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовой микроскоп (МСМ) был изобретен И. Мартином и К. Викрамасингхом в 1987 г. Зонд МСМ в магнитном поле образца

Квазистатические методики МСМ

Колебательные методики МСМ

МСМ исследование поверхности магнитного диска: а)-АСМ изображение рельефа поверхности; б)-МСМ изображение фазового контраста; в)-МСМ изображение амплитудного контраста; г)-МСМ изображение распределения силы взаимодействия зонда с поверхностью.

Ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ)

Д. Поль, 1982 г. 200÷ 300 нм Z<100 a – ближняя зона Z>100 a – дальняя зона =500 нм, а ~ 5 нм, P/W 0 ~ 10 -10

Схематическое изображение строения оптического волокна Изготовление БОМ зондов на основе оптического волокна: (а) – химическое травление волокна; (б) – вид кончика волокна после травления; (в) – напыление тонкой пленки металла.

Схема “shear-force” датчика расстояния зонд-поверхность на основе кварцевого резонатора камертонного типа

Возможные конфигурации ближнепольного оптического микроскопа

Схема БОМ, в котором засветка образца и прием излучения осуществляются с помощью одного и того же зонда

“Shear force” АСМ изображение рельефа поверхности (слева) и ближнепольное оптическое изображение (справа) образца с квантовыми точками In. As